本發(fā)明涉及電子線(xiàn)路測(cè)試，具體涉及一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

1、隨著電子技術(shù)的快速發(fā)展，多層顯示板在消費(fèi)電子、通信設(shè)備、醫(yī)療儀器等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。這些復(fù)雜的電路板不僅承載著高速信號(hào)傳輸?shù)娜蝿?wù)，還集成了大量微小元件和高密度布線(xiàn)，確保其內(nèi)部線(xiàn)路的可靠導(dǎo)通性對(duì)于信號(hào)傳輸?shù)耐暾砸约熬S持系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。傳統(tǒng)的導(dǎo)通性檢測(cè)方法如飛針測(cè)試、針床測(cè)試已經(jīng)在行業(yè)中得到了廣泛應(yīng)用。

2、對(duì)于傳統(tǒng)的導(dǎo)通性檢測(cè)過(guò)程而言，其主要關(guān)注與電數(shù)據(jù)的瞬時(shí)變化，未分析不同位置數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不夠全面。例如飛針測(cè)試和針床測(cè)試在面對(duì)細(xì)間距元件時(shí)，由于元件之間相互干擾影響，使得數(shù)據(jù)存在變化，僅利用瞬時(shí)狀態(tài)下的數(shù)據(jù)評(píng)估導(dǎo)通性容易產(chǎn)生錯(cuò)判誤判的情況。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)于多層顯示板的導(dǎo)通性測(cè)試過(guò)程中，未分析電數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，導(dǎo)致最終導(dǎo)通性檢測(cè)結(jié)果錯(cuò)判誤判的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試系統(tǒng)及方法，所采用的技術(shù)方案具體如下：

2、本發(fā)明提出了一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，所述方法包括：

3、獲得多層顯示板上每個(gè)導(dǎo)孔的電流密度曲線(xiàn)；所述電流密度曲線(xiàn)由過(guò)導(dǎo)孔中心的一條直線(xiàn)上不同位置的電流密度構(gòu)成；獲得每個(gè)導(dǎo)孔的導(dǎo)孔溫度；

4、對(duì)于每個(gè)導(dǎo)孔，根據(jù)所述導(dǎo)孔與其他導(dǎo)孔之間的導(dǎo)孔溫度相似性以及電流密度曲線(xiàn)相似性，獲得所述導(dǎo)孔的導(dǎo)通穩(wěn)定度；獲得所述導(dǎo)孔的電流密度曲線(xiàn)的電流密度穩(wěn)定性；在所述導(dǎo)孔的電流密度曲線(xiàn)上，以最小值為分割點(diǎn)，獲得分割點(diǎn)兩段的數(shù)據(jù)對(duì)稱(chēng)性；根據(jù)所述導(dǎo)通穩(wěn)定度、電流密度穩(wěn)定性以及數(shù)據(jù)對(duì)稱(chēng)性，獲得每個(gè)導(dǎo)孔的導(dǎo)孔質(zhì)量系數(shù)；

5、將多層顯示板上任意一條傳輸線(xiàn)作為干擾源，干擾源一端的同側(cè)其他傳輸線(xiàn)端口作為近端串?dāng)_接收端，另一端的同側(cè)其他傳輸線(xiàn)端口作為遠(yuǎn)端串?dāng)_接收端；獲得每個(gè)近端串?dāng)_接收端的近端串?dāng)_信號(hào)以及每個(gè)遠(yuǎn)端串?dāng)_接收端的遠(yuǎn)端串?dāng)_信號(hào)；

6、對(duì)于除干擾源之外的每條傳輸線(xiàn)，根據(jù)近端串?dāng)_信號(hào)與其他近端串?dāng)_信號(hào)的相位相似度、近端串?dāng)_信號(hào)的周期性、近端串?dāng)_信號(hào)的數(shù)據(jù)變化特征、遠(yuǎn)端串?dāng)_信號(hào)在頻率維度下的變化規(guī)律性，獲得傳輸線(xiàn)的傳輸質(zhì)量系數(shù)；

7、根據(jù)多層顯示板上導(dǎo)孔的導(dǎo)孔質(zhì)量系數(shù)，以及傳輸線(xiàn)的傳輸質(zhì)量系數(shù)，獲得所述多層顯示板的導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)；根據(jù)所述導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)評(píng)估多層顯示板的導(dǎo)通性。

8、進(jìn)一步地，所述導(dǎo)通穩(wěn)定度的獲取方法包括：

9、將所述導(dǎo)孔與所述其他導(dǎo)孔之間的導(dǎo)孔溫度差異進(jìn)行負(fù)相關(guān)映射，獲得溫度相似性；將所述導(dǎo)孔與所述其他導(dǎo)孔之間的電流密度曲線(xiàn)的余弦相似度與所述溫度相似性相乘，獲得所述導(dǎo)孔與所述其他導(dǎo)孔之間的特征相似度；將所述導(dǎo)孔與所有其他導(dǎo)孔之間的平均特征相似度作為所述導(dǎo)通穩(wěn)定度。

10、進(jìn)一步地，所述電流密度穩(wěn)定性的獲取方法包括：

11、所述電流密度曲線(xiàn)上各個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的序列為電流密度序列，獲得所述電流密度序列的第一差分序列，將所述第一差分序列中元素的絕對(duì)值的平均值進(jìn)行負(fù)相關(guān)映射，獲得所述電流密度穩(wěn)定性。

12、進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)對(duì)稱(chēng)性的獲取方法包括：

13、所述分割點(diǎn)將所述電流密度曲線(xiàn)分為兩段子曲線(xiàn)，獲得每段子曲線(xiàn)擬合過(guò)程中的決定系數(shù)，將兩段子曲線(xiàn)之間所述決定系數(shù)的差值絕對(duì)值進(jìn)行負(fù)相關(guān)映射，獲得所述數(shù)據(jù)對(duì)稱(chēng)性。

14、進(jìn)一步地，所述周期性的獲取方法包括：

15、將所述近端串?dāng)_信號(hào)上各個(gè)頻率的相位按照頻率大小進(jìn)行排列，獲得相位序列；根據(jù)所述相位序列獲得樣本熵，將所述樣本熵進(jìn)行負(fù)相關(guān)映射獲得所述周期性。

16、進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)變化特征的獲取方法包括：

17、獲得所述近端串?dāng)_信號(hào)的平均幅值和變異系數(shù)，將所述平均幅值和變異系數(shù)的乘積作為所述數(shù)據(jù)變化特征。

18、進(jìn)一步地，所述變化規(guī)律性的獲取方法包括：

19、對(duì)于所述遠(yuǎn)端串?dāng)_信號(hào)，根據(jù)頻率大小將遠(yuǎn)端串?dāng)_信號(hào)的幅值進(jìn)行排列，獲得遠(yuǎn)端幅值序列；獲得所述遠(yuǎn)端幅值序列的平滑信號(hào)，獲得所述平滑信號(hào)的第二差分序列，將所述第二差分序列中正數(shù)個(gè)數(shù)與負(fù)數(shù)個(gè)數(shù)的比值作為所述變化規(guī)律性。

20、進(jìn)一步地，所述相位相似度的獲取方法包括：

21、將近端串?dāng)_信號(hào)與所有其他近端串?dāng)_信號(hào)之間相位序列的余弦相似度的平均值作為所述相位相似度。

22、進(jìn)一步地，所述導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)的獲取方法包括：

23、獲取多層顯示板上所有導(dǎo)孔的平均導(dǎo)孔質(zhì)量系數(shù)，獲得所有傳輸線(xiàn)的平均傳輸質(zhì)量系數(shù)，將平均導(dǎo)孔質(zhì)量系數(shù)和平均傳輸質(zhì)量系數(shù)的和值作為所述導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)。

24、本發(fā)明還提出了一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試系統(tǒng)，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)任意一項(xiàng)所述一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法的步驟。

25、本發(fā)明具有如下有益效果：

26、本發(fā)明首先考慮到了多層顯示板上存在傳輸線(xiàn)路和傳輸導(dǎo)孔兩種用于傳輸?shù)牟考虼藢?duì)于兩種部件分別進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)孔而，考慮到了電流在經(jīng)過(guò)導(dǎo)孔傳輸時(shí)，因?yàn)橼吥w效應(yīng)會(huì)使得電流密度呈現(xiàn)特殊的變化，導(dǎo)孔的傳導(dǎo)性越差，會(huì)使得電流密度在導(dǎo)孔上不同位置分布不均勻，并且導(dǎo)孔的溫度也會(huì)產(chǎn)生異常，因此獲得的導(dǎo)孔質(zhì)量系數(shù)可用于準(zhǔn)確評(píng)估傳輸電流過(guò)程中每個(gè)導(dǎo)孔的傳輸質(zhì)量。對(duì)于傳輸線(xiàn)而言，首先根據(jù)傳輸線(xiàn)端口的位置判定近端串?dāng)_接收端以及遠(yuǎn)端串?dāng)_接收端。對(duì)于近端串?dāng)_接收端而言，其距離干擾源的信號(hào)注入口較近，耦合效應(yīng)較強(qiáng)，因此傳輸質(zhì)量越高，其對(duì)應(yīng)的近端串?dāng)_信號(hào)越穩(wěn)定，并且對(duì)應(yīng)的遠(yuǎn)端串?dāng)_信號(hào)的幅值隨著頻率變化也會(huì)呈現(xiàn)固定的趨勢(shì)，因此利用傳輸質(zhì)量系數(shù)對(duì)傳輸線(xiàn)上的傳輸質(zhì)量進(jìn)行量化。結(jié)合導(dǎo)孔和傳輸線(xiàn)對(duì)應(yīng)的質(zhì)量系數(shù)即可獲得多層顯示板的導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)并評(píng)估導(dǎo)通性。本發(fā)明利用導(dǎo)孔和傳輸線(xiàn)在電流傳輸過(guò)程中的特性，分析信號(hào)的變化與規(guī)律，對(duì)多層顯示板的導(dǎo)通質(zhì)量進(jìn)行準(zhǔn)確量化。

技術(shù)特征：

1.一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述導(dǎo)通穩(wěn)定度的獲取方法包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述電流密度穩(wěn)定性的獲取方法包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)對(duì)稱(chēng)性的獲取方法包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述周期性的獲取方法包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)變化特征的獲取方法包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述變化規(guī)律性的獲取方法包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述相位相似度的獲取方法包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法，其特征在于，所述導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)的獲取方法包括：

10.一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試系統(tǒng)，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1~9任意一項(xiàng)所述一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及電子線(xiàn)路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種高精密多層顯示板線(xiàn)路導(dǎo)通性測(cè)試系統(tǒng)及方法。該方法通過(guò)導(dǎo)孔之間的相似性、導(dǎo)孔的電流密度曲線(xiàn)的穩(wěn)定性以及對(duì)稱(chēng)性獲得導(dǎo)孔質(zhì)量系數(shù)。通過(guò)傳輸線(xiàn)上近端串?dāng)_信號(hào)之間的相位相似度、周期性、數(shù)據(jù)變化特征，進(jìn)一步結(jié)合遠(yuǎn)端串?dāng)_信號(hào)在頻率變化下的變化規(guī)律性，獲得傳輸線(xiàn)的傳輸質(zhì)量系數(shù)。將數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)整合即可獲得多層顯示板的導(dǎo)通質(zhì)量系數(shù)用于導(dǎo)通性的評(píng)估。本發(fā)明利用導(dǎo)孔和傳輸線(xiàn)在電流傳輸過(guò)程中的特性，分析信號(hào)的變化與規(guī)律，對(duì)多層顯示板的導(dǎo)通質(zhì)量進(jìn)行準(zhǔn)確量化。

技術(shù)研發(fā)人員：黨曉朋,歐志鵬
受保護(hù)的技術(shù)使用者：惠州威爾高電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/8