一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法，裝置包括多個超聲直探頭、多個超聲斜探頭、探頭支架、探桿，基于超聲檢測方法，采用多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭多角度聚焦掃查覆蓋層同一部位，通過比對多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的超聲回波信號頻譜變化，即可檢測出被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)的有缺陷，同時判斷出該缺陷的種類、大小及方位，大大降低漏檢率，實現(xiàn)覆蓋層質(zhì)量的綜合評估。
【專利說明】
一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法所屬
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及一種無損檢測裝置及方法，特別是涉及一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法。
【背景技術】
[0002]金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測至今是一個檢測難題，以金屬陶瓷復合管為例，采用自蔓燃高溫離合合成法制造，該管從外到內(nèi)分別由鋼、過渡層、陶瓷三層組成，陶瓷層是在2200°C以上高溫形成致密剛玉瓷，通過過渡層同鋼管形成牢固的結合。陶瓷復合管內(nèi)表面陶瓷覆層內(nèi)氣隙、孔洞等缺陷嚴重影響管材產(chǎn)品質(zhì)量，常規(guī)超聲檢測方法對其檢測時存在耦合困難，檢測效率低，易出現(xiàn)漏檢等問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術之不足，提供一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法，基于超聲檢測方法，采用多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭多角度聚焦掃查。
[0004]本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置，裝置包括多個超聲直探頭、多個超聲斜探頭、探頭支架、探桿，其特征在于:所述多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭固定在探頭支架上，多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的固定角度可調(diào);探頭支架中有支撐架，確保多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭與金屬復合材料基體表面覆蓋層之間保持恒定距離，探頭支架與探桿固定。
[0005]—種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測方法，采用上述裝置，其特征在于:采用機械傳動裝置控制探桿帶動探頭支架移動至被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層上方，探頭支架中的支撐架架在金屬復合材料基體表面覆蓋層上，確保多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭與金屬復合材料基體表面覆蓋層之間保持恒定距離;在被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層與多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭之間設置充滿導聲介質(zhì);調(diào)節(jié)多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的固定角度，使得多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭發(fā)射的超聲波束聚焦于被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層的同一部位上;機械傳動裝置控制被檢金屬復合材料和探桿相對移動，使得固定在探頭支架上的多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭全面掃查被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層;多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭從多個角度聚焦掃查被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層的同一部位，拾取被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)的同一缺陷的反射回波信號；由于多個超聲波束從多個角度聚焦掃查被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)的同一缺陷，即使該缺陷的種類、大小及方位導致某個角度入射的超聲波束掃查該缺陷時沒有產(chǎn)生回波信號，但其它角度入射的超聲波束能產(chǎn)生回波信號，這樣通過比對多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的超聲回波信號頻譜變化，即可檢測出被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)有缺陷，同時判斷出該缺陷的種類、大小及方位。
[0006]本發(fā)明的有益效果是，提供一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法，裝置包括多個超聲直探頭、多個超聲斜探頭、探頭支架、探桿，基于超聲檢測方法，采用多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭多角度聚焦掃查覆蓋層同一部位，通過比對多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的超聲回波信號頻譜變化，即可檢測出被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)的有缺陷，同時判斷出該缺陷的種類、大小及方位，大大降低漏檢率，實現(xiàn)覆蓋層質(zhì)量的綜合評估。
[0007]以下結合實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明，但本發(fā)明的一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法不局限于實施例。
【附圖說明】
[0008]下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。
[0009]圖1是本發(fā)明實施例的裝置正面剖視圖。
[0010]圖2是本發(fā)明實施例的裝置側面剖視圖。
[0011]圖中，1.超聲直探頭，2.超聲斜探頭，3.探頭支架，4.探桿，5.導聲介質(zhì)，6.被檢金屬陶瓷復合管，60.被檢金屬陶瓷復合管基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層。
【具體實施方式】
[0012]圖1、圖2所示的實施例中，一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置，裝置包括多個超聲直探頭1、多個超聲斜探頭2、探頭支架3、探桿4，其特征在于:所述多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2固定在探頭支架3上，多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2的固定角度可調(diào);探頭支架3中有支撐架，確保多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2與被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60之間保持恒定距離，探頭支架3與探桿4固定。
[0013]—種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測方法，采用上述裝置，其特征在于:采用機械傳動裝置控制探桿4帶動探頭支架3移動至被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60上方，探頭支架3中的支撐架架在被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60上，確保多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2與被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60之間保持恒定距離;在被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60與多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2之間設置充滿導聲介質(zhì)5;調(diào)節(jié)多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2的固定角度，使得多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2發(fā)射的超聲波束聚焦于被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60的同一部位上;機械傳動裝置控制被檢金屬陶瓷復合管6旋轉，機械傳動裝置控制探桿4直線移動，使得固定在探頭支架3上的多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2全面螺旋掃查被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60;多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2從多個角度聚焦掃查被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60的同一部位，拾取被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60內(nèi)的同一缺陷的反射回波信號；由于多個超聲波束從多個角度聚焦掃查被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60內(nèi)的同一缺陷，即使該缺陷的種類、大小及方位導致某個角度入射的超聲波束掃查該缺陷時沒有產(chǎn)生回波信號，但其它角度入射的超聲波束能產(chǎn)生回波信號，這樣通過比對多個超聲直探頭I和多個超聲斜探頭2的超聲回波信號頻譜變化，即可檢測出被檢金屬陶瓷復合管6基體內(nèi)表面陶瓷覆蓋層60內(nèi)有缺陷，同時判斷出該缺陷的種類、大小及方位。
[0014]上述實施例僅用來進一步說明本發(fā)明的一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置及方法，但本發(fā)明并不局限于實施例，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均落入本發(fā)明技術方案的保護范圍內(nèi)。
【主權項】
1.一種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測裝置，裝置包括多個超聲直探頭、多個超聲斜探頭、探頭支架、探桿，其特征在于:所述多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭固定在探頭支架上，多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的固定角度可調(diào);探頭支架中有支撐架，確保多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭與金屬復合材料基體表面覆蓋層之間保持恒定距離，探頭支架與探桿固定。2.—種金屬復合材料基體表面覆蓋層質(zhì)量的檢測方法，采用權利要求1所述的裝置，其特征在于:采用機械傳動裝置控制探桿帶動探頭支架移動至被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層上方，探頭支架中的支撐架架在金屬復合材料基體表面覆蓋層上，確保多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭與金屬復合材料基體表面覆蓋層之間保持恒定距離;在被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層與多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭之間設置充滿導聲介質(zhì)；調(diào)節(jié)多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的固定角度，使得多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭發(fā)射的超聲波束聚焦于被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層的同一部位上;機械傳動裝置控制被檢金屬復合材料和探桿相對移動，使得固定在探頭支架上的多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭全面掃查被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層;多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭從多個角度聚焦掃查被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層的同一部位，拾取被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)的同一缺陷的反射回波信號；由于多個超聲波束從多個角度聚焦掃查被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)的同一缺陷，即使該缺陷的種類、大小及方位導致某個角度入射的超聲波束掃查該缺陷時沒有產(chǎn)生回波信號，但其它角度入射的超聲波束能產(chǎn)生回波信號，這樣通過比對多個超聲直探頭和多個超聲斜探頭的超聲回波信號頻譜變化，即可檢測出被檢金屬復合材料基體表面覆蓋層內(nèi)有缺陷，同時判斷出該缺陷的種類、大小及方位。
【文檔編號】G01N29/275GK105842342SQ201610467639
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年6月24日
【發(fā)明人】林俊明
【申請人】愛德森（廈門）電子有限公司