一種電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路以及電源管理芯片的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路以及電源管理芯片。上述電路用于對(duì)封裝后的成品芯片進(jìn)行修調(diào)，包括：數(shù)據(jù)傳輸模塊、控制模塊和反饋單元。數(shù)據(jù)傳輸模塊與第一引腳連接，采用異步邏輯傳輸從第一引腳處輸入的脈沖觸發(fā)信號(hào)?？刂颇K與數(shù)據(jù)傳輸模塊連接，接收脈沖觸發(fā)信號(hào)，并控制電源管理芯片上的熔絲讀寫單元的讀寫，其中，上述電路還包括與控制模塊連接的反饋單元，反饋單元能將電路修調(diào)后的信號(hào)反饋至第一引腳輸出。通過(guò)使用本發(fā)明的電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路，可以對(duì)封裝后的成品芯片的關(guān)鍵指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試和調(diào)修，且及大地節(jié)約了成本。
【專利說(shuō)明】
一種電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路以及電源管理芯片
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及電源管理芯片技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路以及電源管理芯片。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]目前，很多電源管理芯片都需要通過(guò)修調(diào)的方式來(lái)提高產(chǎn)品的性能以及以較低的成本擴(kuò)展產(chǎn)品。傳統(tǒng)的芯片修調(diào)方式為，在芯片上增加修調(diào)焊盤，在芯片的中測(cè)階段對(duì)芯片的性能進(jìn)行調(diào)整，然后，才進(jìn)行芯片的封裝。由于封裝會(huì)對(duì)制造芯片的晶圓結(jié)構(gòu)造成一定的影響，容易導(dǎo)致封裝后的芯片成品的參數(shù)，和中測(cè)時(shí)的芯片參數(shù)之間存在偏差，造成良率的損失。同時(shí)，傳統(tǒng)的修調(diào)方式無(wú)法對(duì)芯片成品再做調(diào)整，因此，會(huì)造成生產(chǎn)備貨上的壓力。
[0004]傳統(tǒng)的方法為采用面積較大的焊盤作為探針的物理接觸，燒斷選定的熔絲，或者使用復(fù)雜的數(shù)字電路，控制熔絲的狀態(tài)。然而，上述方案一般成本較高，且無(wú)法實(shí)現(xiàn)封裝后的修調(diào)?，F(xiàn)有技術(shù)中，也可以實(shí)現(xiàn)在成品階段對(duì)芯片進(jìn)行修調(diào)，但往往帶來(lái)成本的大幅上升，實(shí)際使用價(jià)值不高。另外，對(duì)某些特殊的產(chǎn)品，比如只有三個(gè)引腳的裝置，這些方案也無(wú)能為力。
[0005]

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明所要解決的一個(gè)技術(shù)問(wèn)題是，降低測(cè)試成本。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路，包括:數(shù)據(jù)傳輸模塊、控制模塊和反饋單元。數(shù)據(jù)傳輸模塊與第一引腳連接，采用異步邏輯傳輸從第一引腳處輸入的脈沖觸發(fā)信號(hào)?？刂颇K與數(shù)據(jù)傳輸模塊連接，接收脈沖觸發(fā)信號(hào)，并控制電源管理芯片上的熔絲讀寫單元的讀寫。其中，上述電路還包括與控制模塊連接的反饋單元，反饋單元能將電路修調(diào)后的信號(hào)反饋至第一引腳輸出。
[0007]優(yōu)選地，電路還包括與數(shù)據(jù)傳輸模塊連接的數(shù)據(jù)分組解碼單元。數(shù)據(jù)解碼單元接收脈沖觸發(fā)信號(hào)并將其分組解碼為相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)和/或修調(diào)信號(hào)。
[0008]優(yōu)選地，控制模塊包括依次串聯(lián)的測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器。測(cè)試模式控制器接收測(cè)試信號(hào)，對(duì)電路進(jìn)行相應(yīng)地測(cè)試;修調(diào)模式控制器接收修調(diào)信號(hào)，控制熔絲讀寫單元的讀寫。
[0009]優(yōu)選地，測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器均與反饋單元連接，并通過(guò)反饋單元和第一引腳輸出測(cè)試信息和/或修調(diào)信息。
[0010]優(yōu)選地，上述電路還包括連接至所述修調(diào)模式控制器的修調(diào)模式定義單元，所述修調(diào)模式定義單元能預(yù)設(shè)修調(diào)模式信息。
[0011]優(yōu)選地，電路還包括與第一引腳連接的測(cè)試模式判斷模塊，測(cè)試模式判斷模塊用于判斷脈沖觸發(fā)信號(hào)是否滿足測(cè)試要求以進(jìn)入測(cè)試模式。
[0012]優(yōu)選地，電路還包括與熔絲讀寫單元連接的第二引腳，第二引腳用于將經(jīng)修調(diào)后的信號(hào)連接至內(nèi)部電路。
[0013]優(yōu)選地，反饋單元包括相互連接的數(shù)據(jù)路由器和/或多路復(fù)用器。
[0014]優(yōu)選地，控制電源管理芯片上的熔絲的讀寫，為通過(guò)控制金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管的導(dǎo)通，進(jìn)而控制熔絲是否被永久燒斷，以調(diào)整電路中輸出的電平的高低。
[0015]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，還提供了采用了上述的修調(diào)測(cè)試電路的電源管理芯片。
[0016]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:(I)在避免使用焊盤的情況下，通過(guò)優(yōu)化電路，具體地通過(guò)采用引腳復(fù)用、信號(hào)反饋、數(shù)據(jù)串行傳輸與數(shù)據(jù)分組解碼等，實(shí)現(xiàn)了對(duì)封裝后的成品芯片的關(guān)鍵指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試和調(diào)修，及大地節(jié)約了成本。(2)由于采用了修調(diào)模式定義單元，可以方便的對(duì)所需的電路特性參數(shù)的數(shù)量做修改。比如在需要修調(diào)基準(zhǔn)電壓、基準(zhǔn)電流和基準(zhǔn)時(shí)鐘時(shí)，可以預(yù)設(shè)三個(gè)修調(diào)模式;而在只需要修改基準(zhǔn)電壓時(shí)，可以預(yù)設(shè)一個(gè)修調(diào)模式，因此電路的擴(kuò)展性好。(3)測(cè)試功能全面，除了可以控制一定的修調(diào)量，還可以進(jìn)行很多單純的測(cè)試功能。
[0017]
【附圖說(shuō)明】
[0018]在下文中將基于實(shí)施例并參考附圖來(lái)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的描述。其中:
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單的介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0019]圖1為本發(fā)明實(shí)施例的電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路的原理框圖；
圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例的電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路的原理框圖；
圖3為圖2的修調(diào)測(cè)試電路應(yīng)用于三端穩(wěn)壓器的連接原理圖；以及
圖4為本發(fā)明實(shí)施例的熔絲讀寫單元的電路連接原理圖。
[0020]在附圖中，相同的部件使用相同的附圖標(biāo)記。附圖并未按照實(shí)際的比例。
[0021]
【具體實(shí)施方式】
[0022]下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0023]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0024]在本發(fā)明的一個(gè)具體的實(shí)施例中，如圖1所示，電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路，包括:數(shù)據(jù)傳輸模塊，與第一引腳連接，采用異步邏輯傳輸從第一引腳處輸入的脈沖觸發(fā)信號(hào)；以及控制模塊，與數(shù)據(jù)傳輸模塊連接，接收脈沖觸發(fā)信號(hào)，并控制電源管理芯片上的熔絲讀寫單元的讀寫;其中，電路還包括與控制模塊連接的反饋單元，反饋單元將電路修調(diào)后的信號(hào)反饋至第一引腳輸出。在這種情況下，由于摒棄了傳統(tǒng)的復(fù)雜數(shù)字電路，而采用異步邏輯使得電路不需要振蕩器來(lái)同步數(shù)據(jù)，從而簡(jiǎn)化了電路結(jié)構(gòu)，節(jié)約了成本。同時(shí)，電路通過(guò)反饋單元將內(nèi)部的修調(diào)后的信號(hào)反饋至復(fù)用引腳，使得被測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)與輸入端共用同一引腳輸出信號(hào)。
[0025]在本發(fā)明的一個(gè)具體的實(shí)施例中，如圖1所示，電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路還包括與數(shù)據(jù)傳輸模塊連接的數(shù)據(jù)分組解碼單元。數(shù)據(jù)解碼單元接收脈沖觸發(fā)信號(hào)并將其分組解碼為相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)和/或修調(diào)信號(hào)。由此，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)封裝后的成品芯片的關(guān)鍵指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試和調(diào)修。
[0026]為了使測(cè)試電路不僅可以控制一定的修調(diào)量，還可以進(jìn)行很多單純的測(cè)試功能，測(cè)試電路的控制模塊包括依次串聯(lián)的測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器。測(cè)試模式控制器接收測(cè)試信號(hào)，對(duì)電路進(jìn)行相應(yīng)地測(cè)試;修調(diào)模式控制器接收修調(diào)信號(hào)，控制熔絲讀寫單元的讀寫操作。具體地，如圖2所示，脈沖觸發(fā)信號(hào)從復(fù)用引腳輸入，經(jīng)上電復(fù)位測(cè)試模式檢測(cè)器實(shí)現(xiàn)上電復(fù)位，并檢測(cè)從復(fù)用引腳輸入的信號(hào)是否滿足進(jìn)入測(cè)試模式要求。
[0027]脈沖觸發(fā)信號(hào)分兩路分別傳輸至異步移位緩沖器和分組計(jì)數(shù)器，進(jìn)行關(guān)鍵邏輯運(yùn)算后輸入至數(shù)據(jù)寄存器中。從數(shù)據(jù)寄存器中輸出的信號(hào)先后輸入至測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器中。測(cè)試模式控制器接收并識(shí)別測(cè)試信號(hào)，對(duì)電路進(jìn)行相應(yīng)地測(cè)試;修調(diào)模式控制器接收并識(shí)別修調(diào)信號(hào)，控制熔絲讀寫單元的讀寫操作。
[0028]另外，測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器均與反饋單元連接，并通過(guò)反饋單元和第一引腳輸出測(cè)試信息和/或修調(diào)信息。優(yōu)選地，反饋單元包括相互連接的數(shù)據(jù)路由器和/或多路復(fù)用器。上述的測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器均連接至數(shù)據(jù)路由器之后再與多路復(fù)用器連接。多路復(fù)用器連接至復(fù)用引腳，將測(cè)試信號(hào)和修調(diào)信號(hào)反饋至復(fù)用引腳輸出。
[0029]為了能預(yù)先設(shè)定修調(diào)模式，上述電路還包括連接至修調(diào)模式控制器的修調(diào)模式定義單元，修調(diào)模式定義單元能預(yù)設(shè)修調(diào)模式信息。在這種情況下，通過(guò)預(yù)先設(shè)置修調(diào)模式的個(gè)數(shù)和類別，可以對(duì)所需的電路特性參數(shù)的數(shù)量和不同性能做修改。具體地，在需要修調(diào)基準(zhǔn)電壓、基準(zhǔn)電流和基準(zhǔn)時(shí)鐘時(shí)，可以預(yù)設(shè)三個(gè)修調(diào)模式;而在只需要修改基準(zhǔn)電壓時(shí)，可以預(yù)設(shè)一個(gè)修調(diào)模式，因此電路的擴(kuò)展性好。
[0030]在本發(fā)明的一個(gè)具體的實(shí)施例中，如圖1所示，電路還包括與第一引腳連接的測(cè)試模式判斷模塊，測(cè)試模式判斷模塊用于判斷脈沖觸發(fā)信號(hào)是否滿足測(cè)試要求以進(jìn)入測(cè)試模式。另外，與熔絲讀寫單元連接還設(shè)有第二引腳，用于將經(jīng)修調(diào)后的信號(hào)連接至內(nèi)部電路。上述的脈沖觸發(fā)信號(hào)可以為脈沖寬度調(diào)制信號(hào)。
[0031]另外，本發(fā)明還提供了一種使用了上述電路的電源管理芯片。
[0032]圖3為本發(fā)明實(shí)施例的修調(diào)測(cè)試電路應(yīng)用于三端穩(wěn)壓器的連接原理圖。從圖中可知，輸出端定義為復(fù)用引腳。這樣，脈沖寬度調(diào)制信號(hào)從上述的輸出端加入，而芯片內(nèi)部關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，例如，基準(zhǔn)源節(jié)點(diǎn)，內(nèi)置誤差放大器負(fù)反饋節(jié)點(diǎn)等的電壓電流信號(hào)也從該輸出端引出。這樣，通過(guò)在復(fù)用引腳加入預(yù)設(shè)的脈沖寬度調(diào)制信號(hào)，觸發(fā)芯片進(jìn)入調(diào)試模式。在復(fù)用引腳可測(cè)得芯片內(nèi)部的關(guān)鍵信號(hào)，例如，第一測(cè)試模式下的偏移量以得到修調(diào)編碼信息。之后，將上述的修調(diào)編碼信息通過(guò)復(fù)用引腳輸入芯片，芯片自動(dòng)執(zhí)行修調(diào)動(dòng)作，燒斷對(duì)應(yīng)的熔絲。待第一測(cè)試模式的修調(diào)結(jié)束后，可以輸入下一個(gè)測(cè)試模式指令，對(duì)下一個(gè)信號(hào)進(jìn)行修調(diào)。
[0033]圖4為本發(fā)明實(shí)施例的熔絲讀寫單元的電路連接原理圖。從圖中可知，通過(guò)控制金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管Ml、M2、M3、M4的導(dǎo)通，可以控制熔絲讀寫單元上的熔絲FUSE是否被永久燒斷，以調(diào)整電路中輸出的電平的高低。具體地，晶體管M1、M 2接收控制信號(hào)E N和WRITE，將M3柵極信號(hào)拉低，M3開(kāi)啟。M3驅(qū)動(dòng)M4將FUSE在電源和地之間短路，從而將FUSE熔斷。晶體管M5接收READ信號(hào)，在一個(gè)窄脈沖內(nèi)，如果LATCH的輸入被拉低，則輸出低電平，反之輸出高電平。
[0034]雖然已經(jīng)參考優(yōu)選實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下，可以對(duì)其進(jìn)行各種改進(jìn)并且可以用等效物替換其中的部件。尤其是，只要不存在結(jié)構(gòu)沖突，各個(gè)實(shí)施例中所提到的各項(xiàng)技術(shù)特征均可以任意方式組合起來(lái)。本發(fā)明并不局限于文中公開(kāi)的特定實(shí)施例，而是包括落入權(quán)利要求的范圍內(nèi)的所有技術(shù)方案。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電源管理芯片的修調(diào)測(cè)試電路，其特征在于，包括: 數(shù)據(jù)傳輸模塊，與第一引腳連接，采用異步邏輯傳輸從所述第一引腳處輸入的脈沖觸發(fā)信號(hào)；以及 控制模塊，與所述數(shù)據(jù)傳輸模塊連接，接收所述脈沖觸發(fā)信號(hào)，并控制所述電源管理芯片上的恪絲讀寫單元的讀寫； 其中，所述電路還包括與所述控制模塊連接的反饋單元，所述反饋單元能將所述電路修調(diào)后的信號(hào)反饋至所述第一弓I腳輸出。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，還包括與所述數(shù)據(jù)傳輸模塊連接的數(shù)據(jù)分組解碼單元； 所述數(shù)據(jù)解碼單元接收所述脈沖觸發(fā)信號(hào)并將其分組解碼為相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)和/或修調(diào)信號(hào)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路，其特征在于，所述控制模塊包括依次串聯(lián)的測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器;所述測(cè)試模式控制器接收所述測(cè)試信號(hào)，對(duì)所述電路進(jìn)行相應(yīng)地測(cè)試;所述修調(diào)模式控制器接收所述修調(diào)信號(hào)，控制所述熔絲讀寫單元的讀寫。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路，其特征在于，所述測(cè)試模式控制器和修調(diào)模式控制器均與所述反饋單元連接，并通過(guò)所述反饋單元和第一引腳輸出測(cè)試信息和/或修調(diào)信息。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路，其特征在于，還包括連接至所述修調(diào)模式控制器的修調(diào)模式定義單元，所述修調(diào)模式定義單元能預(yù)設(shè)修調(diào)模式信息。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，還包括與所述第一引腳連接的測(cè)試模式判斷模塊，所述測(cè)試模式判斷模塊用于判斷所述脈沖觸發(fā)信號(hào)是否滿足測(cè)試要求以進(jìn)入測(cè)試模式。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，還包括與所述熔絲讀寫單元連接的第二引腳，所述第二引腳用于將經(jīng)修調(diào)后的信號(hào)連接至內(nèi)部電路。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述反饋單元包括相互連接的數(shù)據(jù)路由器和/或多路復(fù)用器。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述控制電源管理芯片上的熔絲的讀寫，為通過(guò)控制金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管的導(dǎo)通，進(jìn)而控制熔絲是否被永久燒斷，以調(diào)整電路中輸出的電平的高低。10.—種電源管理芯片，其特征在于，采用了如以上任一權(quán)利要求所述的修調(diào)測(cè)試電路。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK106093755SQ201610659518
【公開(kāi)日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年8月12日 公開(kāi)號(hào)201610659518.5, CN 106093755 A, CN 106093755A, CN 201610659518, CN-A-106093755, CN106093755 A, CN106093755A, CN201610659518, CN201610659518.5
【發(fā)明人】魏汝新, 唐沛寅
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