本發(fā)明涉及光纖，尤其涉及一種纖芯直徑測試平臺和方法。

背景技術(shù)：

1、隨著光纖行業(yè)的發(fā)展，光纖種類越來越多，光纖的結(jié)構(gòu)也不再是傳統(tǒng)的纖芯加包層的結(jié)構(gòu)。臺階結(jié)構(gòu)的光纖由于在纖芯周圍引入了一圈折射率高于包層的臺階，使得纖芯相對于臺階的折射率減小，從而減小了纖芯的數(shù)值孔徑，因此臺階光纖能夠保證好的光束質(zhì)量。

2、但是，對于有臺階結(jié)構(gòu)的光纖，當(dāng)采用傳統(tǒng)測試平臺測試?yán)w芯直徑時，會出現(xiàn)無法測出其纖芯直徑的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種纖芯直徑測試平臺和方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中無法測出纖芯直徑的缺陷。

2、本發(fā)明提供一種纖芯直徑測試平臺，包括光源、臺階結(jié)構(gòu)的待測光纖和光斑探測器，所述平臺還包括：

3、高折涂層無源光纖，所述高折涂層無源光纖的出光端與所述待測光纖的進(jìn)光端連接，所述高折涂層無源光纖的涂層折射率高于包層折射率，且纖芯折射率高于所述包層折射率；

4、所述光源產(chǎn)生的光從所述高折涂層無源光纖的進(jìn)光端進(jìn)入，從所述待測光纖的出光端輸出；

5、所述光斑探測器，用于探測輸出光斑，并基于所述輸出光斑的光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑或臺階直徑。

6、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述高折涂層無源光纖的纖芯直徑與所述待測光纖的纖芯直徑之間的差異在第一閾值范圍內(nèi)；或，

7、所述待測光纖為多級臺階結(jié)構(gòu)，所述高折涂層無源光纖的纖芯直徑與所述待測光纖中任一級臺階的臺階直徑之間的差異在所述第一閾值范圍內(nèi)。

8、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述第一閾值為±2微米。

9、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述高折涂層無源光纖與所述待測光纖的包層直徑之間的差異在第二閾值范圍內(nèi)；所述高折涂層無源光纖與所述待測光纖的纖芯數(shù)值孔徑之間的差異在第三閾值范圍內(nèi)。

10、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述第二閾值為±5微米，所述第三閾值為±0.01。

11、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述高折涂層無源光纖的出光端與所述待測光纖的進(jìn)光端通過熔接方式連接。

12、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述待測光纖的臺階折射率低于纖芯折射率，所述臺階折射率高于包層折射率。

13、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺，所述光斑探測器包括圖像采集設(shè)備和圖像處理設(shè)備，所述圖像采集設(shè)備用于采集輸出光斑的光斑圖像，所述圖像處理設(shè)備用于基于所述光斑圖像確定光強(qiáng)分布，并基于所述光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑。

14、本發(fā)明還提供一種纖芯直徑測試方法，所述方法包括：

15、搭建所述的纖芯直徑測試平臺；

16、打開光源，使光從所述高折涂層無源光纖的進(jìn)光端進(jìn)入，從所述待測光纖的出光端輸出；

17、使用光斑探測器探測輸出光斑，并基于所述輸出光斑的光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑或臺階直徑。

18、根據(jù)本發(fā)明提供的纖芯直徑測試方法，若所述高折涂層無源光纖的纖芯直徑與所述待測光纖的纖芯直徑之間的差異在第一閾值范圍內(nèi)，則所述光斑探測器基于所述輸出光斑的光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑；

19、若所述待測光纖為多級臺階結(jié)構(gòu)，所述高折涂層無源光纖的纖芯直徑與所述待測光纖中任一級臺階的臺階直徑之間的差異在所述第一閾值范圍內(nèi)，則所述光斑探測器基于所述輸出光斑的光強(qiáng)分布確定所述待測光纖中任一級臺階的臺階直徑。

20、本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺和方法，通過將高折涂層無源光纖的出光端與待測光纖的進(jìn)光端連接，光源產(chǎn)生的光從高折涂層無源光纖的進(jìn)光端進(jìn)入，從待測光纖的出光端輸出，保證了纖芯與臺階部分的光強(qiáng)有很明顯的對比，從而可以被處理軟件識別出纖芯與臺階邊界。

21、本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺和方法，解決了傳統(tǒng)測試平臺面對臺階結(jié)構(gòu)折射率分布光纖，無法測試?yán)w芯直徑的問題。還可以用于多臺階結(jié)構(gòu)各級臺階直徑的測試，解決了傳統(tǒng)測試平臺無法測試多臺階結(jié)構(gòu)各級臺階直徑的問題。

技術(shù)特征：

1.一種纖芯直徑測試平臺，包括光源、臺階結(jié)構(gòu)的待測光纖和光斑探測器，其特征在于，所述平臺還包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述高折涂層無源光纖的纖芯直徑與所述待測光纖的纖芯直徑之間的差異在第一閾值范圍內(nèi)；或，

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述第一閾值為±2微米。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述高折涂層無源光纖與所述待測光纖的包層直徑之間的差異在第二閾值范圍內(nèi)；所述高折涂層無源光纖與所述待測光纖的纖芯數(shù)值孔徑之間的差異在第三閾值范圍內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述第二閾值為±5微米，所述第三閾值為±0.01。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述高折涂層無源光纖的出光端與所述待測光纖的進(jìn)光端通過熔接方式連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述待測光纖的臺階折射率低于纖芯折射率，所述臺階折射率高于包層折射率。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的纖芯直徑測試平臺，其特征在于，所述光斑探測器包括圖像采集設(shè)備和圖像處理設(shè)備，所述圖像采集設(shè)備用于采集輸出光斑的光斑圖像，所述圖像處理設(shè)備用于基于所述光斑圖像確定光強(qiáng)分布，并基于所述光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑。

9.一種纖芯直徑測試方法，其特征在于，所述方法包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的纖芯直徑測試方法，其特征在于，若所述高折涂層無源光纖的纖芯直徑與所述待測光纖的纖芯直徑之間的差異在第一閾值范圍內(nèi)，則所述光斑探測器基于所述輸出光斑的光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑；

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及光纖技術(shù)領(lǐng)域，提供一種纖芯直徑測試平臺和方法，平臺包括光源、臺階結(jié)構(gòu)的待測光纖和光斑探測器，以及高折涂層無源光纖。所述高折涂層無源光纖的出光端與所述待測光纖的進(jìn)光端連接，所述高折涂層無源光纖的涂層折射率高于包層折射率，且纖芯折射率高于所述包層折射率；所述光源產(chǎn)生的光從所述高折涂層無源光纖的進(jìn)光端進(jìn)入，從所述待測光纖的出光端輸出；所述光斑探測器，用于探測輸出光斑，并基于所述輸出光斑的光強(qiáng)分布確定所述待測光纖的纖芯直徑或臺階直徑。本發(fā)明提供的纖芯直徑測試平臺和方法，保證了纖芯與臺階部分的光強(qiáng)有很明顯的對比，從而可以識別出纖芯與臺階邊界，解決了傳統(tǒng)測試平臺無法測試?yán)w芯直徑的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：李超,劉銳,王道龍,王靜,張軍,盧浩,李念,姚志陽,閆大鵬
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢睿芯特種光纖有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/8