一種用于光分路器芯片測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉光通信領(lǐng)域，具體為一種用于光分路器芯片測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，人們進(jìn)入信息化時(shí)代，各種通信手段層出不窮，其中光通信一直占有比較大的比重。
[0003]在ODN網(wǎng)絡(luò)中，最核心的無源器件是光分路器，其起到的作用是對(duì)進(jìn)入端光信號(hào)進(jìn)行分光處理。目前光分路器主要是采用集成光學(xué)技術(shù)生產(chǎn)的平面光波導(dǎo)(PLC)分路器。PLC分路器主要由:光分路器芯片、FA (光纖陣列)、Pigtail單纖三部分組成。三部分中最核心的器件是光分路器芯片，光分路器芯片的性能參數(shù)直接決定了 PLC的性能參數(shù)。
[0004]傳統(tǒng)的加工是不測試芯片，直接利用劃片機(jī)切割后就直接使用，這樣就存在一些問題，在PLC耦合時(shí)，如果參數(shù)不能調(diào)到規(guī)定的數(shù)字，需要花大量的時(shí)間去尋找原因；傳統(tǒng)的耦合方法是監(jiān)控最邊上的兩根光纖，如果芯片中間位置存在不良，需要在裸纖測試時(shí)才能發(fā)現(xiàn)，浪費(fèi)膠水與工時(shí)；如果裸纖測試不良，還需要花大量的時(shí)間去判定是光分路器芯片還是FA的問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的目的是提供一種用于光分路器芯片測試裝置，可以對(duì)光分路器芯片進(jìn)行光學(xué)性能測試，在后續(xù)的PLC耦合時(shí)，參數(shù)出錯(cuò)時(shí)能排除芯片的原因；讓中間位置不良的芯片檢測出來，不讓其進(jìn)入裸纖測試階段，可以節(jié)省膠水和工時(shí)；裸纖測試不良時(shí)，可以排除光分路器芯片的問題。
[0006]為實(shí)現(xiàn)以上目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種用于光分路器芯片測試裝置，它包括光源(1)，所述的光源(I)與多通道測試儀(7)通過導(dǎo)線連接；所述的多通道測試儀(7)與多模FA (12)相連，其光源出口(10)與Pigtail單纖(13)相連；所述的多模FA
(12)和Pigtail單纖13)均安放在六維調(diào)整架(14)上，且六維調(diào)整架14)上還放置有待測光分路器芯片(15)，且其位于多模FA (12)和Pigtail單纖(13)的中間；所述的待測光分路器芯片(15)的上部設(shè)置有圖像傳感器CXD (11)，且圖像傳感器CXD (11)固定在C⑶固定架(16)上；所述的圖像傳感器CXD (11)通過導(dǎo)線與畫面分割器(9)相連；所述的畫面分割器(9)上設(shè)置有顯示器(8)，且它們通過導(dǎo)線相連。
[0007]進(jìn)一步的，所述的光源(I)設(shè)置有四個(gè)光源輸出口，且光源輸出口一 2)輸出1550nm的光源，光源輸出口二(3)輸出1490nm的光源，光源輸出口三(4)輸出1310nm的光源，光源輸出口四(5)輸出650nm的光源。
[0008]進(jìn)一步的，所述的光源輸出口三(4)和光源輸出口四(5)連接到光分路器(6)上，光分路器(6)與多通道測試儀(7)通過導(dǎo)線連接。
[0009]實(shí)用新型的有益效果:1、本實(shí)用新型一種用于光分路器芯片測試裝置，圖像傳感器將光分路器芯片的光學(xué)性能傳遞給顯示器，進(jìn)而檢測它的光學(xué)性能是否良好。
[0010]2、在后續(xù)的PLC耦合時(shí)，如果出現(xiàn)參數(shù)不對(duì)時(shí)，可以排除掉光分路器芯片的因素，減少尋早問題的時(shí)間。
[0011]3、將中間位置不良的芯片檢測出來，不讓其進(jìn)入裸纖測試階段，減少裸纖測試時(shí)的返工率，進(jìn)而節(jié)省膠水和生產(chǎn)工時(shí)。
[0012]4、在裸纖測試時(shí)，如果出現(xiàn)不良品，可以直接排除掉光分路器芯片的因素，進(jìn)而減少檢測工時(shí)。
[0013]5、光源可以發(fā)出多種不同波長的光源，可以更加全面的測試光分路器芯片的光學(xué)性能，使測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
【附圖說明】
[0014]圖1為一種用于光分路器芯片測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖中所述文字標(biāo)注表不為:1、光源；2、光源輸出口一 ；3、光源輸出口二 ；4、光源輸出口三；5、光源輸出口四；6、光分路器；7、多通道測試儀；8、顯示器；9、畫面分割器；10、光源出口 ；11、圖像傳感器CXD ;12、多模FA ;13、Pigtail單纖；14、六維調(diào)整架；15、待測光分路器芯片；16、CXD固定架。
【具體實(shí)施方式】
[0016]為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)描述，本部分的描述僅是示范性和解釋性，不應(yīng)對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍有任何的限制作用。
[0017]如圖1所示，本實(shí)用新型的具體結(jié)構(gòu)為:一種用于光分路器芯片測試裝置，它包括光源1，所述的光源I與多通道測試儀7通過導(dǎo)線連接；所述的多通道測試儀7與多模FA12相連，其光源出口 10與Pigtail單纖13相連；所述的多模FA12和Pigtail單纖13均安放在六維調(diào)整架14上，且六維調(diào)整架14上還放置有待測光分路器芯片15，且其位于多模FA12和Pigtail單纖13的中間；所述的待測光分路器芯片15的上部設(shè)置有圖像傳感器CXD11，且圖像傳感器CXD11固定在CXD固定架16上；所述的圖像傳感器CXD11通過導(dǎo)線與畫面分割器9相連；所述的畫面分割器9上設(shè)置有顯示器8，且它們通過導(dǎo)線相連。
[0018]優(yōu)選的，所述的光源I設(shè)置有四個(gè)光源輸出口，且光源輸出口一 2輸出1550nm的光源，光源輸出口二 3輸出1490nm的光源，光源輸出口三4輸出1310nm的光源，光源輸出口四5輸出650nm的光源。
[0019]優(yōu)選的，所述的光源輸出口三4和光源輸出口四5連接到光分路器6上，光分路器6與多通道測試儀7通過導(dǎo)線連接。
[0020]具體使用時(shí)，將帶測試芯片15安裝到六維調(diào)整架14上，將Pigtail單纖13連接到多通道測試儀器7的光源出口 10上；然后將Pigtail單纖13安裝到六維調(diào)整架14上，在六維調(diào)整架的輸出端放一個(gè)45°反光鏡，將圖像傳感器CXDll移動(dòng)到45°反光鏡上方；之后調(diào)節(jié)六位調(diào)整架14輸入端，使顯示器8出現(xiàn)與光分路器芯片15芯數(shù)對(duì)應(yīng)的光點(diǎn)；最后，將多模FA12安裝到六維調(diào)整架14上，調(diào)節(jié)六位調(diào)整架14，觀察多通道測試儀器7上顯示的數(shù)據(jù)，如數(shù)據(jù)能達(dá)到規(guī)定的數(shù)值，則芯片合格，反之，則不合格。
[0021]需要說明的是，在本文中，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括哪些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。
[0022]本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想。以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，由于文字表達(dá)的有限性，而客觀上存在無限的具體結(jié)構(gòu)，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)、潤飾或變化，也可以將上述技術(shù)特征以適當(dāng)?shù)姆绞竭M(jìn)行組合；這些改進(jìn)潤飾、變化或組合，或未經(jīng)改進(jìn)將實(shí)用新型的構(gòu)思和技術(shù)方案直接應(yīng)用于其它場合的，均應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于光分路器芯片測試裝置，其特征在于，它包括光源(I)，所述的光源(I)與多通道測試儀(7)通過導(dǎo)線連接；所述的多通道測試儀(7)與多模FA (12)相連，其光源出口(10)與Pigtail單纖(13)相連;所述的多模FA (12)和Pigtail單纖(13)均安放在六維調(diào)整架(14)上，且六維調(diào)整架(14)上還放置有待測光分路器芯片(15)，且其位于多模FA(12)和Pigtail單纖(13)的中間；所述的待測光分路器芯片(15)的上部設(shè)置有圖像傳感器CXD (11)，且圖像傳感器CXD (11)固定在CXD固定架(16)上；所述的圖像傳感器CXD(11)通過導(dǎo)線與畫面分割器(9)相連；所述的畫面分割器(9)上設(shè)置有顯示器(8)，且它們通過導(dǎo)線相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光分路器芯片測試裝置，其特征在于，所述的光源(I)設(shè)置有四個(gè)光源輸出口，且光源輸出口一(2)輸出1550nm的光源，光源輸出口二(3)輸出1490nm的光源，光源輸出口三(4)輸出1310nm的光源，光源輸出口四(5)輸出650nm的光源。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于光分路器芯片測試裝置，其特征在于，所述的光源輸出口三(4)和光源輸出口四(5)連接到光分路器(6)上，光分路器(6)與多通道測試儀(7)通過導(dǎo)線連接。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉光通信領(lǐng)域，具體為一種用于光分路器芯片測試裝置，光源與多通道測試儀通過導(dǎo)線連接；多通道測試儀與多模FA相連，其光源出口與Pigtail單纖相連；多模FA和Pigtail單纖均安放在六維調(diào)整架上，且六維調(diào)整架上還放置有待測光分路器芯片，且其位于多模FA和Pigtail單纖的中間；待測光分路器芯片的上部設(shè)置有CCD，且CCD固定在CCD固定架上；圖像傳感器CCD通過導(dǎo)線與畫面分割器相連；畫面分割器上設(shè)置有顯示器，且它們通過導(dǎo)線相連；本實(shí)用新型的目的是提供一種用于光分路器芯片測試裝置，可以對(duì)光分路器芯片進(jìn)行光學(xué)性能測試，將中間位置不良的芯片檢測出來，不讓其進(jìn)入裸纖測試階段，可以節(jié)省膠水和工時(shí)；裸纖測試不良時(shí)，可以排除光分路器芯片的問題。
【IPC分類】G01M11-02
【公開號(hào)】CN204461715
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520045733
【發(fā)明人】陳波
【申請(qǐng)人】新中合光電科技（保靖）有限公司
【公開日】2015年7月8日
【申請(qǐng)日】2015年1月23日