用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試的試塊的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試的試塊，所述試塊具有容納探頭架的中心通孔；所述試塊包括大徑柱狀部和位于所述大徑柱狀部兩端的小徑柱狀部；所述大徑柱狀部包括中心段以及分別與兩所述小徑柱狀部連接的兩過渡段；各所述過渡段具有至少兩個半徑不同的圓弧面；所述中心段與各所述過渡段之間均具有環(huán)形槽，所述中心段的頂部具有第一平面，各所述過渡段的頂部均具有與所述第一平面平行的第二平面；所述第一平面、所述環(huán)形槽的槽底及所述第二平面距所述中心通孔的孔壁的距離各不相同。該試塊在不拆解超聲波探傷設(shè)備的探頭架的情況下，能夠?qū)μ筋^架上的各探頭的性能進(jìn)行測試。
【專利說明】
用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試的試塊
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本實(shí)用新型涉及探頭性能測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于空心車軸的超聲波 探傷設(shè)備探頭性能測試的試塊。
【背景技術(shù)】
[0002] 高速動車組均采用空心車軸以減輕簧下重量，隨著高速動車組的提速，對空心車 軸進(jìn)行超聲波探傷也顯得尤為重要。
[0003] 為確保探傷結(jié)果的可靠性，在對空心車軸進(jìn)行探傷前，需要對超聲波探傷設(shè)備的 探頭的性能進(jìn)行測試，傳統(tǒng)的探頭測試方法是采用IIW或CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行。但是，用于 動車組空心車軸的超聲波探傷設(shè)備的探頭架通常組裝為圓柱體結(jié)構(gòu)，并且前后各布置一探 頭組，每個探頭組為一個整體模塊，由若干個不同角度的探頭(可分為直探頭和斜探頭)集 成，無法拆解，從而無法使用現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)試塊對探頭性能進(jìn)行測試。
[0004] 因此，如何設(shè)計一種試塊，在超聲波探傷設(shè)備的探頭架不拆解的情況下，能夠?qū)μ?頭架上的各探頭的性能進(jìn)行測試，是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005] 本實(shí)用新型的目的是提供一種空心車軸探頭性能測試用試塊，該試塊在不拆解超 聲波探傷設(shè)備的探頭架的情況下，能夠?qū)μ筋^架上的各探頭的性能進(jìn)行測試。
[0006] 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備探頭 性能測試的試塊，所述試塊具有容納探頭架的中心通孔;所述試塊包括大徑柱狀部和位于 所述大徑柱狀部兩端的小徑柱狀部；
[0007] 所述大徑柱狀部包括中心段以及分別與兩所述小徑柱狀部連接的兩過渡段;各所 述過渡段具有至少兩個半徑不同的圓弧面；
[0008] 所述中心段與各所述過渡段之間均具有環(huán)形槽，所述中心段的頂部具有第一平 面，各所述過渡段的頂部均具有與所述第一平面平行的第二平面;所述第一平面、所述環(huán)形 槽的槽底及所述第二平面距所述中心通孔的孔壁的距離各不相同。
[0009] 本實(shí)用新型提供的試塊能夠滿足現(xiàn)有用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備的探頭性 能測試的基本需求，在不拆解探頭架的情況下，能夠?qū)μ筋^架上前后布置的兩探頭組的各 探頭進(jìn)行性能測試;具體地，試塊的大徑柱狀部的中心段的第一平面可用于直探頭的回波 頻率測試;試塊的大徑柱狀部的過渡段的一個圓弧面可用于斜探頭回波頻率測試;試塊的 第一平面、第二平面及環(huán)形槽的槽底可用于直探頭的分辨力測試，試塊的大徑柱狀部的過 渡段的兩個圓弧面可用于斜探頭的分辨力測試;試塊的大徑柱狀部的過渡段的一個圓弧面 還可用于斜探頭的靈敏度余量測試；另外，該試塊的大徑柱狀部的中心段兩側(cè)具有相似的 結(jié)構(gòu)，即過渡段和小徑柱狀部，所以探頭架伸入中心通孔對其探頭進(jìn)行性能測試時，探頭架 前后布置的兩探頭組的各探頭均能夠進(jìn)行性能測試;綜上，該試塊的設(shè)計簡化了用于空心 車軸超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試的操作流程，提高了探頭性能測試的效率。
[0010] 可選的，所述中心段的所述第一平面上開設(shè)有一個平底孔。
[0011] 可選的，兩所述小徑柱狀部中的一者沿軸向開設(shè)有若干等距且深度不等的平底 孔。
[0012] 可選的，所述小徑柱狀部上開設(shè)若干所述平底孔的位置為平面結(jié)構(gòu)。
[0013] 可選的，所述中心段的底部具有第三平面，所述第三平面上開設(shè)有人工刻槽。
[0014]可選的，各所述過渡段的底部均具有與所述第三平面平行的第四平面，所述第三 平面、所述環(huán)形槽的槽底及所述第四平面距所述中心通孔的孔壁的距離各不相同。
[0015] 可選的，每一所述過渡段相對所述中心通孔的軸線結(jié)構(gòu)對稱。
[0016] 可選的，兩所述過渡段相對所述中心段對稱設(shè)置。
[0017]可選的，兩所述小徑柱狀部的徑向尺寸和軸向尺寸均一致。
[0018] 可選的，各所述環(huán)形槽的槽底為平面結(jié)構(gòu)。
【附圖說明】
[0019] 圖1為本實(shí)用新型所提供試塊一種具體實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020] 圖2為圖1所示試塊的剖面示意圖；
[0021] 圖3為圖2中I部位的局部放大圖；
[0022]圖4為圖2中II部位的局部放大圖；
[0023]圖5為探頭回波頻率測試中底波的波形示意圖；
[0024]圖6a和圖6b示出了直探頭分辨力測試中反射回波的兩種波形示意圖。
[0025] 附圖標(biāo)記說明：
[0026] 試塊10,中心通孔10a，
[0027] 大徑柱狀部11，中心段111，第一平面1111，第三平面1112,左過渡段112,左第一圓 弧面1121，左第二圓弧面1122,左第二平面1123,左第四平面1124,右過渡段113,右第一圓 弧面1131，右第二圓弧面1132,右第二平面1133,右第四平面1134,左環(huán)形槽114,右環(huán)形槽 115；
[0028]左小徑柱狀部12,右小徑柱狀部13，
[0029]平底孔詘、1^1、1^2、1^3、1^4、1^5;人工刻槽13;
[0030] 探頭架20。
【具體實(shí)施方式】
[0031] 為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施 方式對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0032] 請參考圖1至圖4,圖1為本實(shí)用新型所提供試塊一種具體實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖 2為圖1所示試塊的剖面示意圖；圖3為圖2中I部位的局部放大圖；圖4為圖2中II部位的局部 放大圖。
[0033] 本實(shí)用新型提供的試塊適用于空心車軸超聲波探傷設(shè)備的探頭性能測試；目前， 該種超聲波探傷設(shè)備的探頭架通常組裝為圓柱體結(jié)構(gòu)，探頭組一前一后布置。
[0034] 該實(shí)施例中，試塊10具有容納探頭架20的中心通孔10a，試塊10包括大徑柱狀部11 和位于大徑柱狀部11兩端的小徑柱狀部，以下為便于描述和理解，將兩小徑柱狀部稱之為 左小徑柱狀部12和右小徑柱狀部13,其他類似結(jié)構(gòu)也以左、右區(qū)分。
[0035] 本方案中，大徑柱狀部11、左小徑柱狀部12和右小徑柱狀部13均以圓柱狀結(jié)構(gòu)為 本體，以此為基礎(chǔ)加工出后續(xù)介紹的各幾何結(jié)構(gòu)。另，本方案中，大徑柱狀部11、左小徑柱狀 部12和右小徑柱狀部13三者的軸線重合，顯然，大徑柱狀部11、左小徑柱狀部12和右小徑柱 狀部13的軸線也即中心通孔10a的軸線。
[0036] 如圖所示，大徑柱狀部11包括中心段111及分別與左小徑柱狀部12、右小徑柱狀部 13連接的左過渡段112、右過渡段113。
[0037] 其中，各過渡段均具有至少兩個半徑不同的圓弧面;本方案中，該兩個圓弧面順次 連接。如圖所示，左過渡段112具有左第一圓弧面1121和左第二圓弧面1122,右過渡段113具 有右第一圓弧面1131和右第二圓弧面1132。
[0038] 其中，中心段111與各過渡段之間均具有環(huán)形槽，即左環(huán)形槽114和右環(huán)形槽115; 中心段111的頂部具有第一平面1111，各過渡段的頂部均具有與第一平面1111平行的第二 平面，即左第二平面1123和右第二平面1133;第一平面111 1、環(huán)形槽的槽底及第二平面距中 心通孔的孔壁(這里顯然以同一壁面為參考基準(zhǔn)）的距離各不相同。本方案中，左第二平面 1123和右第二平面1133處于同一平面內(nèi)，左環(huán)形槽114和右環(huán)形槽115的槽深度一致。
[0039] 具體的方案中，各過渡段的第二平面、第一圓弧面和第二圓弧面自中心段111向?qū)?應(yīng)側(cè)的小徑柱狀部順次連接，為圓滑過渡，第一圓弧面的半徑大于第二圓弧面的半徑。
[0040] 如上設(shè)置，該試塊10能夠滿足現(xiàn)有用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備的探頭性能測 試的基本需求，在不拆解探頭架20的情況下，能夠?qū)μ筋^架20上前后布置的兩探頭組的各 探頭進(jìn)行性能測試。該試塊10可用于進(jìn)行性能測試的具體如下：
[0041] 試塊10的大徑柱狀部11的中心段111的第一平面1111可用于直探頭的回波頻率測 試；
[0042] 試塊10的大徑柱狀部11的過渡段的一個圓弧面可用于斜探頭回波頻率測試；
[0043] 試塊10的第一平面1111、第二平面及環(huán)形槽的槽底可用于直探頭的分辨力測試； 具體地，試塊10的第一平面1111、左第二平面和左環(huán)形槽114的槽底平面，及試塊10的第一 平面1111、右第二平面和右環(huán)形槽115的槽底平面可分別用于探頭架20上前后直探頭的分 辨力測試；
[0044] 試塊10的大徑柱狀部11的過渡段的兩個圓弧面可用于斜探頭的分辨力測試；
[0045] 試塊10的大徑柱狀部11的過渡段的一個圓弧面還可用于斜探頭的靈敏度余量測 試；
[0046] 另外，該試塊10的大徑柱狀部11的中心段111兩側(cè)具有相似的結(jié)構(gòu)，即過渡段和小 徑柱狀部，所以探頭架20伸入中心通孔10a對其探頭進(jìn)行性能測試時，探頭架20前后布置 (即圖示的左右兩側(cè)）的兩探頭組的各探頭均能夠進(jìn)行性能測試;綜上，該試塊10的設(shè)計簡 化了用于空心車軸超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試的操作流程，提高了探頭性能測試的效 率。
[0047] 具體地，各環(huán)形槽的槽底為平面結(jié)構(gòu)，這樣在進(jìn)行探頭性能測試時，能夠消除其他 結(jié)構(gòu)，如弧形、錐形等的折射影響，提高測試準(zhǔn)確性。
[0048] 超聲波探傷設(shè)備的探頭性能測試通常都參照相應(yīng)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，以試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)來制定 用于各不同性能測試的幾何結(jié)構(gòu)的參數(shù)。
[0049] 具體地，大徑柱狀部11的中心段111的第一平面1111距中心通孔10a頂壁的距離為 100mm，兩個環(huán)形槽的槽底距中心通孔10a頂壁的距離均為85mm，兩個過渡段的第二平面距 中心通孔10a頂壁的距離均為91mm，兩個過渡段的第一圓弧面的半徑均為100mm，第二圓弧 面的半徑均為97mm。
[0050] 具體的方案中，中心段111的第一平面111 1上還開設(shè)有一個平底孔ko，該平底孔kO 可用于直探頭的靈敏度余量測試，還可用于直探頭的信噪比測試。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，該平底孔 k0的直徑具體為2mm。
[0051] 將該平底孔k0開設(shè)在第一平面1111上，在進(jìn)行探頭性能測試時，可以消除圓弧面 折射的影響，使得測試結(jié)果更合理更準(zhǔn)確。
[0052]具體的方案中，左小徑柱狀部12沿軸向開設(shè)有若干等距且深度不等的平底孔，這 些平底孔可用于探頭的盲區(qū)測試。
[0053] 進(jìn)一步地，左小徑柱狀部12上開設(shè)這些平底孔的位置為平面結(jié)構(gòu)，如圖所示，左小 徑柱狀部12的頂部也具有平面結(jié)構(gòu)，上述若干平底孔就開設(shè)于該平面結(jié)構(gòu)。
[0054]圖示方案中，示例性地示出了左小徑柱狀部12上開設(shè)有五個等距且深度不等的平 底孔kl、1^2、1^3、1^4、1^5;具體地，這些平底孔的孔徑也設(shè)為21]11]1，其間距可以在9~351]11]1范圍 內(nèi)。
[0055]可以理解，在右小徑柱狀部13上開設(shè)用于探頭盲區(qū)測試的一系列平底孔也是可行 的。
[0056]具體的方案中，大徑柱狀部11的中心段111的底部具有第三平1112，第三平面1112 上開設(shè)有人工刻槽b，該人工刻槽b可用于斜探頭的信噪比測試，還可用于斜探頭的折射角 測試。
[0057]將人工刻槽b開設(shè)在平面結(jié)構(gòu)上，同樣有助于減少圓弧面的反射對測試的影響。 [0058] 具體地，人工刻槽b的尺寸為10mm長，1mm深。
[0059] 具體的方案中，大徑柱狀部11的各過渡段的底部均具有與第三平面1112平行的第 四平面，其中，第三平面1112、環(huán)形槽的槽底及第四平面距中心通孔10a的孔壁（當(dāng)然這里也 以同一壁面為參考基準(zhǔn)）的距離各不相同。
[0060] 具體地，左過渡段112的左第四平面1124和右過渡段113的右第四平面1134處于同 一平面內(nèi)。這樣，試塊10的第三平面1112、左第四平面1124和左環(huán)形槽114的槽底平面及第 三平面1112、右第四平面1124和右環(huán)形槽115的槽底平面也可以分別用于探頭架20上前后 探頭組的直探頭的分辨力測試，與前述第一平面1111、第二平面及環(huán)形槽的槽底平面相結(jié) 合，可以用于多個不同部位的直探頭的分辨力測試。
[0061] 進(jìn)一步的方案中，左過渡段112相對中心通孔10a的軸線結(jié)構(gòu)對稱，右過渡段113相 對中心通孔10a的軸線結(jié)構(gòu)對稱，更進(jìn)一步地，左過渡段112和右過渡段113相對中心段111 對稱設(shè)置，這樣，測試時，探頭架20前后兩探頭組的相關(guān)測試參數(shù)一致，便于測試結(jié)果的比 較分析。另外，上述對稱結(jié)構(gòu)也便于試塊的加工。
[0062] 具體的方案中，左小徑柱狀部12和右小徑柱狀部13的徑向尺寸和軸向尺寸均一 致。這樣，無論探頭架20從左端伸入中心通孔10a還是從右端伸入中心通孔10a，對其上前后 兩探頭組的測量參數(shù)均一致，便于分析。
[0063] 利用上述試塊10對探頭進(jìn)行各性能測試的測試方法如下：
[0064] 盲區(qū)測試：
[0065] 盲區(qū)的測定可用試塊10上左小徑柱狀部12的若干平底孔kl~k5,如圖所示。示波 屏上能清晰地顯示Φ 2mm平底孔獨(dú)立回波的最小距離即為所測的盲區(qū)。
[0066]直探頭的靈敏度余量測試：
[0067] 先調(diào)節(jié)探傷機(jī)，使待測直探頭增益至最大，使噪聲電平不高于滿屏幅度的10%，記 錄此時的增益值So;
[0068] 接著將待測直探頭對準(zhǔn)試塊10的第一平面1111上的平底孔k0,移動直探頭使第一 次回波幅度最尚；
[0069]然后，調(diào)節(jié)增益使第一次回波幅度達(dá)到滿屏的50%，記錄此時的增益值S1;
[0070] 那么，靈敏度余量S為:3 =
[0071 ]斜探頭的靈敏度余量測試：
[0072] 先調(diào)節(jié)探傷機(jī)，使待測斜探頭增益至最大，使噪聲電平不高于滿屏幅度的10%，記 錄此時的增益值So;
[0073] 接著將待測斜探頭對準(zhǔn)試塊10的第一圓弧面，前后移動斜探頭，使第一圓弧面的 第一次回波幅度最高；
[0074]再調(diào)節(jié)增益使回波幅度為滿屏幅度的50%，記下此時的增益值S1;
[0075] 那么，靈敏度余量S為:3 =
[0076]直探頭的回波頻率測試：
[0077] 測試時，先將待測直探頭對準(zhǔn)試塊10的第一平面1111，使第一平面1111的第一次 回波幅度最高;再在顯示屏中觀察底波的波形，如圖5所示，在此波形中，以峰值點(diǎn)P為基準(zhǔn)， 讀取其前一個和其后二個共計三個周期的時間T 3,把T3作為測量值，回波頻率6 = 3/1^回 波頻率誤差：
[0078] Afe=(fe-f〇)/f〇X100%
[0079] 式中，Afe為回波頻率誤差;fo為探頭的標(biāo)稱頻率。
[0080] 斜探頭的回波頻率測試：
[0081] 測試時，先將待測斜探頭對準(zhǔn)試塊10的第一圓弧面，前后移動斜探頭，使第一圓弧 面的第一次回波幅度最高;再在顯示屏中觀察底波的波形，如圖5所示，在此波形中，以峰值 點(diǎn)P為基準(zhǔn)，讀取其前一個和其后二個共計三個周期的時間T 3,把T3作為測量值，回波頻率 = 3/T3,回波頻率誤差：
[0082] Afe=(fe-fo)/f〇X100%
[0083] 式中，Afe為回波頻率誤差;fo為探頭的標(biāo)稱頻率。
[0084] 直探頭的分辨力測試：
[0085] 將待測直探頭置于試塊10上，左右移動待測直探頭，使示波屏上出現(xiàn)環(huán)形凹槽的 槽底平面(85mm)、第二平面(或第四平面）（91mm)、第一平面(或第三平面）（100mm)三個反射 回波A、B、C，回波圖形如圖6a和圖6b所示；
[0086]當(dāng)A、B、C不能分開時，如圖6a，則分辨力F為：
[0087]
[0088]當(dāng)A、B、C能分開時，如圖6b，則分辨力F為：
[0089]
[0090] 斜探頭的分辨力測試：
[0091] 先移動旋轉(zhuǎn)待測斜探頭，使待測斜探頭對準(zhǔn)試塊10的第一圓弧面和第二圓弧面， 使示波屏上出現(xiàn)兩弧面的反射回波；
[0092] 移動待測斜探頭，使兩弧面的反射回波等高達(dá)到滿屏的80% ;
[0093]測量兩圓弧面一次回波間的波谷高度h2,則該斜探頭的分辨力Rs = 201g(80/h2)。
[0094] 直探頭的信噪比測試：
[0095] 將待測直探頭置于試塊10上，對準(zhǔn)試塊10的第一平面1111上的平底孔k0,使示波 屏上出現(xiàn)第一次回波；
[0096]移動待測直探頭，使平底孔k0第一次回波高度達(dá)到滿屏的80% ;
[0097] 記錄此時噪聲波高h(yuǎn)i;
[0098] 信噪比為：201g(80/hl)。
[0099] 斜探頭的信噪比測試：
[0100] 將待測斜探頭置于試塊10上，對準(zhǔn)試塊10的第三平面1112的人工刻槽b，使示波屏 上出現(xiàn)第一次回波；
[0101 ]移動待測斜探頭，使人工刻槽b第一次回波高度達(dá)到滿屏的80% ;
[0102] 記錄此時噪聲波高h(yuǎn)i;
[0103] 信噪比為：201g(80/hl)。
[0104] 斜探頭的折射角測試：
[0105] 將待測斜探頭置于試塊10上，對準(zhǔn)試塊10的第三平面1112的人工刻槽b，使示波屏 上出現(xiàn)第一次回波；
[0106] 移動待測斜探頭，使人工刻槽b第一次回波高度達(dá)到滿屏的80% ;
[0107] 通過探傷機(jī)記錄此時的水平距離和待測斜探頭的位置差1，探測深度d;
[0108]由此，可根據(jù)tana = l/d得到，折射角a = arctan(l/d) 〇
[0109]以上對本實(shí)用新型所提供的一種用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試 的試塊進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個例對本實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡 述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對于 本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以對本實(shí)用新 型進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 用于空心車軸的超聲波探傷設(shè)備探頭性能測試的試塊，所述試塊具有容納探頭架的 中心通孔;其特征在于，所述試塊包括大徑柱狀部和位于所述大徑柱狀部兩端的小徑柱狀 部； 所述大徑柱狀部包括中心段以及分別與兩所述小徑柱狀部連接的兩過渡段;各所述過 渡段具有至少兩個半徑不同的圓弧面； 所述中心段與各所述過渡段之間均具有環(huán)形槽，所述中心段的頂部具有第一平面，各 所述過渡段的頂部均具有與所述第一平面平行的第二平面;所述第一平面、所述環(huán)形槽的 槽底及所述第二平面距所述中心通孔的孔壁的距離各不相同。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的試塊，其特征在于，所述中心段的所述第一平面上開設(shè)有一個 平底孔。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的試塊，其特征在于，兩所述小徑柱狀部中的一者沿軸向開設(shè)有 若干等距且深度不等的平底孔。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的試塊，其特征在于，所述小徑柱狀部上開設(shè)若干所述平底孔的 位置為平面結(jié)構(gòu)。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的試塊，其特征在于，所述中心段的底部具有第三平面，所述第 三平面上開設(shè)有人工刻槽。6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的試塊，其特征在于，各所述過渡段的底部均具有與所述第三平 面平行的第四平面，所述第三平面、所述環(huán)形槽的槽底及所述第四平面距所述中心通孔的 孔壁的距離各不相同。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的試塊，其特征在于，每一所述過渡段相對所述中心通孔的軸線 結(jié)構(gòu)對稱。8. 根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的試塊，其特征在于，兩所述過渡段相對所述中心段對 稱設(shè)置。9. 根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的試塊，其特征在于，兩所述小徑柱狀部的徑向尺寸和 軸向尺寸均一致。10. 根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的試塊，其特征在于，各所述環(huán)形槽的槽底為平面結(jié) 構(gòu)。
【文檔編號】G01N29/30GK205656171SQ201620365983
【公開日】2016年10月19日
【申請日】2016年4月27日 公開號201620365983.3, CN 201620365983, CN 205656171 U, CN 205656171U, CN-U-205656171, CN201620365983, CN201620365983.3, CN205656171 U, CN205656171U
【發(fā)明人】周慶祥, 傅曄, 李廣凱, 陶傳琦, 張志毅, 王銀靈, 張澤勇, 王澤文
【申請人】中車青島四方機(jī)車車輛股份有限公司