本技術(shù)涉及自動控制，特別是涉及一種應用于數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整方法、裝置、計算機設備、存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、數(shù)控磨床是一種利用計算機數(shù)控技術(shù)進行精密磨削加工的設備。它通過控制電動機和各種機械部件的運動軌跡，完成工件的磨削加工。與傳統(tǒng)磨床相比，數(shù)控磨床具有更高的自動化程度、精度和穩(wěn)定性。

2、目前，數(shù)控磨床通常由多個部分組成，包括數(shù)控系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)、機械部件和檢測系統(tǒng)。數(shù)控系統(tǒng)負責控制磨床的操作，通過編程輸入指令來控制磨削過程中的進給速度、轉(zhuǎn)速、磨削深度等參數(shù)。驅(qū)動系統(tǒng)則確保各種機械運動的順暢進行，例如工作臺的進給、砂輪的轉(zhuǎn)動等。在使用數(shù)控磨床時，可以根據(jù)不同的加工需求調(diào)整不同的工作參數(shù)，從而實現(xiàn)高效、高精度的磨削加工。

3、然而，在使用數(shù)控磨床進行工件加工的過程中，數(shù)控磨床需要對工件加工的誤差進行即時的控制，以盡可能確保工件的誤差在合理范圍內(nèi)，在這一過程中，需要不斷根據(jù)反饋數(shù)據(jù)對數(shù)控磨床的控制參數(shù)進行調(diào)整，而相關技術(shù)中的往往采用檢測系統(tǒng)持續(xù)測量反饋數(shù)據(jù)，而忽略了工件的并不是持續(xù)且連續(xù)加工的，不同工件之間可能存在較大的時間間隔，而這段時間的反饋數(shù)據(jù)并不能代表工件加工時的誤差情況，而是會對整體的反饋數(shù)據(jù)造成干擾，使得數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整準確性不足。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種能夠提高數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整準確性的應用于數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整方法、裝置、計算機設備、計算機可讀存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種應用于數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整方法，所述方法應用于磨床加工設備，并且所述磨床加工設備與至少一個數(shù)據(jù)測量設備相關聯(lián)；包括：

3、獲取當前控制參數(shù)和運行反饋信息；其中，所述運行反饋信息用于表征所述磨床加工設備的運行階段；

4、根據(jù)所述運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，并將所述測量配置數(shù)據(jù)發(fā)送至所述數(shù)據(jù)測量設備，以指示所述數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)所述測量配置數(shù)據(jù)執(zhí)行數(shù)據(jù)測量，得到測量反饋數(shù)據(jù)；

5、獲取來自所述數(shù)據(jù)測量設備的測量反饋數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述運行反饋信息表征的所述運行階段對所述測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)；

6、根據(jù)所述目標反饋數(shù)據(jù)調(diào)整所述當前控制參數(shù)。

7、在其中一個實施例中，所述運行反饋信息包括所述運行階段的階段標識；所述根據(jù)所述運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，包括：

8、根據(jù)所述階段標識確定目標測量頻率；

9、根據(jù)所述測量頻率生成測量配置數(shù)據(jù)。

10、在其中一個實施例中，所述階段標識包括加工開始標識、加工進行標識、加工結(jié)束標識和加工停止標識中的一個或多個；所述運行反饋信息還包括階段時刻信息；所述根據(jù)所述階段標識確定測量頻率，包括：

11、在所述階段標識是所述加工停止標識的情況下，確定目標測量頻率為0；

12、在所述階段標識不是所述加工停止標識的情況下，根據(jù)所述階段時刻信息確定目標測量頻率。

13、在其中一個實施例中，所述在所述階段標識不是所述加工停止標識的情況下，根據(jù)所述階段時刻信息確定目標測量頻率，包括：

14、在所述階段標識不是所述加工停止標識的情況下，根據(jù)所述階段時刻信息計算加工進行時間間隔；

15、根據(jù)所述加工進行時間間隔計算動態(tài)測量頻率；

16、根據(jù)所述階段標識獲取預設測量頻率，并將所述預設測量頻率與所述動態(tài)測量頻率進行對比，得到頻率對比結(jié)果；

17、根據(jù)所述頻率對比結(jié)果確定目標測量頻率。

18、在其中一個實施例中，所述將所述預設測量頻率與所述動態(tài)測量頻率進行對比，得到頻率對比結(jié)果，包括：

19、計算所述預設測量頻率與所述動態(tài)測量頻率的差值的絕對值，以得到頻率對比結(jié)果；

20、相應地，所述根據(jù)所述頻率對比結(jié)果確定目標測量頻率，包括：

21、在所述絕對值高于預設閾值的情況下，將所述動態(tài)測量頻率作為目標測量頻率；

22、在所述絕對值等于或低于所述預設閾值的情況下，將所述預設測量頻率作為目標測量頻率。

23、在其中一個實施例中，所述根據(jù)所述運行反饋信息表征的所述運行階段對所述測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)，包括：

24、將每兩個指示加工完成的所述運行階段之間的數(shù)據(jù)作為一個目標數(shù)據(jù)段，得到所述目標數(shù)據(jù)段對應的目標測量數(shù)據(jù)。

25、第二方面，本技術(shù)還提供了一種應用于數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整裝置，所述裝置應用于磨床加工設備，并且所述磨床加工設備與至少一個數(shù)據(jù)測量設備相關聯(lián)；包括：

26、信息獲取模塊，用于獲取當前控制參數(shù)和運行反饋信息；其中，所述運行反饋信息用于表征所述磨床加工設備的運行階段；

27、測量配置模塊，用于根據(jù)所述運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，并將所述測量配置數(shù)據(jù)發(fā)送至所述數(shù)據(jù)測量設備，以指示所述數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)所述測量配置數(shù)據(jù)執(zhí)行數(shù)據(jù)測量，得到測量反饋數(shù)據(jù)；

28、測量反饋模塊，用于獲取來自所述數(shù)據(jù)測量設備的測量反饋數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述運行反饋信息表征的所述運行階段對所述測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)；

29、參數(shù)調(diào)整模塊，用于根據(jù)所述目標反饋數(shù)據(jù)調(diào)整所述當前控制參數(shù)。

30、第三方面，本技術(shù)還提供了一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)以下步驟：

31、獲取當前控制參數(shù)和運行反饋信息；其中，所述運行反饋信息用于表征所述磨床加工設備的運行階段；

32、根據(jù)所述運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，并將所述測量配置數(shù)據(jù)發(fā)送至所述數(shù)據(jù)測量設備，以指示所述數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)所述測量配置數(shù)據(jù)執(zhí)行數(shù)據(jù)測量，得到測量反饋數(shù)據(jù)；

33、獲取來自所述數(shù)據(jù)測量設備的測量反饋數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述運行反饋信息表征的所述運行階段對所述測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)；

34、根據(jù)所述目標反饋數(shù)據(jù)調(diào)整所述當前控制參數(shù)。

35、第四方面，本技術(shù)還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)以下步驟：

36、獲取當前控制參數(shù)和運行反饋信息；其中，所述運行反饋信息用于表征所述磨床加工設備的運行階段；

37、根據(jù)所述運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，并將所述測量配置數(shù)據(jù)發(fā)送至所述數(shù)據(jù)測量設備，以指示所述數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)所述測量配置數(shù)據(jù)執(zhí)行數(shù)據(jù)測量，得到測量反饋數(shù)據(jù)；

38、獲取來自所述數(shù)據(jù)測量設備的測量反饋數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述運行反饋信息表征的所述運行階段對所述測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)；

39、根據(jù)所述目標反饋數(shù)據(jù)調(diào)整所述當前控制參數(shù)。

40、第五方面，本技術(shù)還提供了一種計算機程序產(chǎn)品，包括計算機程序，該計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)以下步驟：

41、獲取當前控制參數(shù)和運行反饋信息；其中，所述運行反饋信息用于表征所述磨床加工設備的運行階段；

42、根據(jù)所述運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，并將所述測量配置數(shù)據(jù)發(fā)送至所述數(shù)據(jù)測量設備，以指示所述數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)所述測量配置數(shù)據(jù)執(zhí)行數(shù)據(jù)測量，得到測量反饋數(shù)據(jù)；

43、獲取來自所述數(shù)據(jù)測量設備的測量反饋數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述運行反饋信息表征的所述運行階段對所述測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)；

44、根據(jù)所述目標反饋數(shù)據(jù)調(diào)整所述當前控制參數(shù)。

45、上述應用于數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整方法、裝置、計算機設備、存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品，應用于磨床加工設備，并且磨床加工設備與至少一個數(shù)據(jù)測量設備相關聯(lián)，該方法通過獲取當前控制參數(shù)和運行反饋信息，運行反饋信息能夠表征磨床加工設備的運行階段，根據(jù)運行反饋信息確定測量配置數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)當前工件的加工情況針對性地設置測量配置數(shù)據(jù)，再將測量配置數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)據(jù)測量設備，以指示數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)測量配置數(shù)據(jù)執(zhí)行數(shù)據(jù)測量，得到測量反饋數(shù)據(jù)，能夠使得數(shù)據(jù)測量設備根據(jù)工件的具體加工階段進行數(shù)據(jù)測量，而避免了在測量過程中引入干擾數(shù)據(jù)，接下來，獲取來自數(shù)據(jù)測量設備的測量反饋數(shù)據(jù)，并根據(jù)運行反饋信息表征的運行階段對測量反饋數(shù)據(jù)進行分段處理，得到目標反饋數(shù)據(jù)，最后根據(jù)目標反饋數(shù)據(jù)調(diào)整當前控制參數(shù)，因此，上述方法根據(jù)工件加工的情況針對性地獲取測量反饋數(shù)據(jù)，又根據(jù)運行階段針對性地得到目標反饋數(shù)據(jù)，使得目標反饋數(shù)據(jù)能夠更加準確地表征工件加工情況，進而提高了數(shù)控磨床的控制參數(shù)調(diào)整準確性。