相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用本申請(qǐng)要求2022年10月17日提交的韓國(guó)專利申請(qǐng)?zhí)?0-2022-0133602號(hào)的優(yōu)先權(quán)，其全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用并入本文。本發(fā)明涉及一種電路板測(cè)試端子，尤其涉及一種用于測(cè)試組裝有電路板的電子部件的端子。

背景技術(shù)：

1、印刷電路板（pcb）是用于幾乎每個(gè)電子設(shè)備的必要部件，并且被布線并設(shè)置在絕緣板上，以便電路連接電氣/電子部件。pcb各自具有導(dǎo)體和絕緣體以板的形式堆疊的結(jié)構(gòu)，并且多個(gè)電氣/電子部件（諸如半導(dǎo)體、電容器或電阻器）可以安裝在其上。安裝后的電氣/電子部件可以通過(guò)印刷在pcb上的電線電路彼此電連接。在pcb中，可以有效地設(shè)計(jì)電線以減小電子設(shè)備的尺寸，并提高其性能和生產(chǎn)率。

2、安裝在pcb上的所述多個(gè)電氣/電子部件可以傳輸或接收電信號(hào)。然而，當(dāng)需要傳輸或接收的電信號(hào)的量增加或需要高速處理信號(hào)時(shí)，會(huì)發(fā)生信號(hào)處理速度降低的現(xiàn)象，這導(dǎo)致pcb的性能劣化。為了解決信號(hào)處理速度降低的問(wèn)題，使用諸如增加pcb的層數(shù)以增加部件的容納容量的方法。

3、同時(shí)，由于難以通過(guò)肉眼檢查安裝在pcb上的半導(dǎo)體、電容器或電阻器等電子部件是否正確安裝在pcb上，因此可以采用單獨(dú)的測(cè)試設(shè)備來(lái)測(cè)試電子部件是否正常操作。當(dāng)測(cè)試設(shè)備為一個(gè)時(shí)，工人可以立即用雙手按下述方式進(jìn)行測(cè)試：通過(guò)一只手抓握測(cè)試探針以使該測(cè)試探針與電路板上的目標(biāo)點(diǎn)接觸，并用另一只手抓握接地探針以使該接地探針與電路板上的接地點(diǎn)接觸。然而，如果存在各種類型的測(cè)試設(shè)備，則如上所述使用測(cè)試設(shè)備逐個(gè)地進(jìn)行測(cè)試會(huì)導(dǎo)致執(zhí)行測(cè)試花費(fèi)大量時(shí)間的問(wèn)題，并且測(cè)試設(shè)備輸出的結(jié)果不能一目了然被直觀地看到。此外，當(dāng)通過(guò)使用諸如焊接的方法將測(cè)試探針?lè)謩e連接到設(shè)置在pcb上的測(cè)試點(diǎn)、以一次性地將各種類型的測(cè)試設(shè)備連接到電路板上的目標(biāo)點(diǎn)來(lái)一次性地執(zhí)行測(cè)試時(shí)，存在探針可能彼此接觸從而引起電短路的問(wèn)題，并且在執(zhí)行測(cè)試之后執(zhí)行單獨(dú)的過(guò)程，以移除已經(jīng)通過(guò)焊接等連接的測(cè)試探針，這存在不便。

4、因此，需要技術(shù)發(fā)展來(lái)解決上述問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、技術(shù)方案

2、用于解決上述問(wèn)題的本發(fā)明的目的是提供一種電路板測(cè)試端子，當(dāng)安裝在電路板上的電子部件、電路等被測(cè)試是否正確操作時(shí)，該電路板測(cè)試端子能夠一次性地快速地進(jìn)行測(cè)試，而不會(huì)在各種類型的測(cè)試設(shè)備之間發(fā)生電短路。

3、技術(shù)方案

4、作為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，本發(fā)明提供了一種電路板測(cè)試端子，所述電路板測(cè)試端子包括板部和延伸部，所述延伸部從所述板部延伸，以連接到電路板的測(cè)試點(diǎn)，其中，所述板部包括：板單元，所述板單元支撐下部；分隔單元，所述分隔單元設(shè)置在所述板單元上，以將所述板單元?jiǎng)澐殖啥鄠€(gè)區(qū)域，并且具有預(yù)定高度；以及端子單元，所述端子單元設(shè)置在每個(gè)劃分區(qū)域上，其中，測(cè)試所述電路板的測(cè)試探針與所述端子單元接觸。

5、具有預(yù)定深度的保持溝槽可以沿著分隔單元的邊緣限定在分隔單元的上端中。

6、傾斜引導(dǎo)溝槽可以限定在端子單元的頂表面中，其中傾斜引導(dǎo)溝槽是這樣的溝槽：其具有預(yù)定傾斜度，以朝向限定在與其相鄰的分隔單元中的保持溝槽傾斜。

7、可以在端子單元中限定供測(cè)試探針的端部豎直插入的豎直引導(dǎo)溝槽。

8、豎直引導(dǎo)溝槽可以限定在端子單元的中心部分中。

9、分隔單元可以包括電絕緣材料。

10、延伸部可以包括延伸單元和聯(lián)接單元，其中該延伸單元的一端連接到端子單元，該聯(lián)接單元聯(lián)接到延伸單元的另一端，并且聯(lián)接到測(cè)試點(diǎn)。

11、聯(lián)接單元可以與延伸單元分離和聯(lián)接到延伸單元。

12、聯(lián)接單元可具有環(huán)形端部。

13、延伸單元可以設(shè)置為多個(gè)，多個(gè)延伸單元中的每個(gè)延伸單元的一端可以連接到不同的端子單元。聯(lián)接單元可以聯(lián)接到延伸單元中的每個(gè)延伸單元的另一端，以便聯(lián)接到多個(gè)測(cè)試點(diǎn)。

14、電路板測(cè)試端子還可以包括連接單元，該連接單元將端子單元電連接到延伸單元，其中連接單元聯(lián)接到端子單元的一側(cè)。

15、作為本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例，本發(fā)明可以包括電路板測(cè)試端子和測(cè)試設(shè)備，所述測(cè)試設(shè)備包括測(cè)試探針和接地探針，其中所述測(cè)試探針具有與所述電路板測(cè)試端子接觸的端部，所述接地探針連接到待接地的電路板，其中所述電路板測(cè)試端子包括板部和延伸部，所述延伸部從所述板部延伸，以連接到電路板的測(cè)試點(diǎn)，其中所述板部包括：板單元，所述板單元支撐下部；分隔單元，所述分隔單元設(shè)置在所述板單元上，以將所述板單元?jiǎng)澐殖啥鄠€(gè)區(qū)域，并且具有預(yù)定高度；以及端子單元，所述端子單元設(shè)置在每個(gè)被劃分的區(qū)域上，其中測(cè)試所述電路板的測(cè)試探針與所述端子單元接觸。

16、有利效果

17、根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)安裝在電路板上的電子部件被測(cè)試是否正常操作時(shí)，可以簡(jiǎn)單地連接各種類型的測(cè)試設(shè)備，以一次性地執(zhí)行測(cè)試，從而快速執(zhí)行測(cè)試?？梢酝ㄟ^(guò)各種類型的測(cè)試設(shè)備一次性地執(zhí)行測(cè)試，以容易地比較由測(cè)試設(shè)備測(cè)量的值。此外，即使在執(zhí)行測(cè)試之后，也可以快速分離執(zhí)行測(cè)試所需的測(cè)試設(shè)備。

技術(shù)特征：

1.一種電路板測(cè)試端子，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測(cè)試端子，其中，具有預(yù)定深度的保持溝槽沿著所述分隔單元的邊緣限定在所述分隔單元的上端。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述端子單元的頂表面上限定有傾斜引導(dǎo)溝槽，所述傾斜引導(dǎo)溝槽是這樣的溝槽：其具有預(yù)定傾斜度，以朝向與之相鄰的所述分隔單元中所限定的保持溝槽傾斜。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測(cè)試端子，其中，在所述端子單元中限定有豎直引導(dǎo)溝槽，所述測(cè)試探針的一端豎直插入所述豎直引導(dǎo)溝槽。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述豎直引導(dǎo)溝槽限定在所述端子單元的中心部分中。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述分隔單元包括電絕緣材料。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述延伸部包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述聯(lián)接單元能夠與所述延伸單元分離和聯(lián)接到所述延伸單元。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述聯(lián)接單元具有呈環(huán)形的端部。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測(cè)試端子，其中，所述延伸單元被提供為多個(gè)，多個(gè)所述延伸單元的每個(gè)延伸單元的一端連接到不同的端子單元，并且

11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測(cè)試端子，還包括連接單元，所述連接單元被構(gòu)造成將所述端子單元電連接到所述延伸單元，

12.一種電路板測(cè)試組件，包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種電路板測(cè)試端子。所提供的電路板測(cè)試端子包括板部和延伸部，所述延伸部從所述板部延伸，并且被連接到所述電路板的測(cè)試點(diǎn)，其中，所述板部包括：板單元，所述板單元支撐下部；分隔單元，所述分隔單元在所述板單元上被劃分成多個(gè)隔間，并且形成至預(yù)定高度；以及端子單元，所述端子單元被設(shè)置在被劃分的隔間中，所述端子單元與測(cè)試所述電路板的測(cè)試探針相接觸。

技術(shù)研發(fā)人員：樸惠陳
受保護(hù)的技術(shù)使用者：株式會(huì)社LG新能源
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/8