一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在鐵路信號行業(yè)，為使電路能夠安全地切斷、控制，繼電器的應(yīng)用較為普及，繼電器在使用前需要進(jìn)行性能檢測，需要檢測勵磁電壓、觸點壓降或勵磁延時性能是否滿足標(biāo)準(zhǔn)，其中密封型繼電器往往難以通過直觀檢查判斷出性能是否滿足標(biāo)準(zhǔn)。在密封性繼電器無法進(jìn)行分解拆卸的前提下，如何對繼電器進(jìn)行檢測，確保電路正常溝通與切斷是提高檢修效率和質(zhì)量，確保行車安全的重要保障。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于以上不足，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試方法和裝置，其能對繼電器的勵磁性能進(jìn)行檢測。
[0004]為了解決以上技術(shù)問題，本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案:
[0005]—種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試方法，包括以下步驟:
[0006](I)調(diào)用模數(shù)轉(zhuǎn)換子程序及IIC協(xié)議，讀取觸點輸入電壓；
[0007](2)判斷繼電器輸出命令，選擇數(shù)字量范圍；
[0008](3)判斷數(shù)字量回檢輸入是否正常，若是，測試次數(shù)減I，繼電器輸出命令取反，并執(zhí)行下一步，若否，調(diào)用報警子程序；
[0009](4)調(diào)用顯示子程序，控制顯示模塊顯示設(shè)置及測試次數(shù)，并返回到步驟(I)重新執(zhí)行。
[0010]在所述步驟(I)之前還包括按鍵檢測步驟，所述按鍵檢測步驟包括:
[0011](I)檢測設(shè)置鍵是否按下，若是，延時抖動，若否，執(zhí)行下一步；
[0012](2)再次檢測設(shè)置鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(I);
[0013](3)檢測加測試次數(shù)鍵和減測試次數(shù)鍵是否按下，若是，延時抖動，若否，執(zhí)行下一步；
[0014](4)再次檢測加測試次數(shù)鍵和減測試次數(shù)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(3);
[0015](5)檢測確認(rèn)鍵是否按下，若是，延時抖動，若否，執(zhí)行下一步；
[0016](6)再次檢測確認(rèn)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(5)。
[0017]—種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試裝置，包括單片機(jī)、用于設(shè)置測試次數(shù)和啟動程序的設(shè)置模塊、用于將繼電器的模擬輸入信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動模塊、用于接入繼電器的繼電器連接模塊和在判斷出繼電器誤動作或不滿足標(biāo)準(zhǔn)時進(jìn)行報警的報警模塊，所述設(shè)置模塊、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動模塊以及報警模塊均與所述單片機(jī)連接，所述繼電器連接模塊分別與所述繼電器驅(qū)動模塊和所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0018]所述繼電器驅(qū)動模塊包括兩個三極管以及一個單刀雙擲開關(guān)，單片機(jī)的繼電器控制命令引腳與單刀雙擲開關(guān)的控制端連接，單刀雙擲開關(guān)一端為其中一三極管的基極，另一端為另一三極管的基極，其中一三極管的集電極和發(fā)射極連接并聯(lián)連接的四個繼電器，另一三極管的集電極和發(fā)射極連接并聯(lián)連接另外四個繼電器。
[0019]所述繼電器連接模塊包括八個二極管，所述二極管的正極與其中一個繼電器連接，負(fù)極與模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0020]所述設(shè)置模塊包括與所述單片機(jī)連接的設(shè)置按鍵、用于加測試次數(shù)的按鍵、用于減測試次數(shù)的按鍵以及用于啟動的按鍵。
[0021]所述報警模塊包括三極管和蜂鳴器，所述三極管是基極與所述單片機(jī)連接，發(fā)射極與蜂鳴器連接，集電極與電源連接，所述蜂鳴器接地連接。
[0022]還包括與單片機(jī)連接的晶振電路和復(fù)位電路。
[0023]還包括電源模塊，所述電源模塊為外置可調(diào)電源。
[0024]還包括顯示模塊，所述顯示模塊包括兩個鎖存器以及數(shù)碼管，所述鎖存器均與所述單片機(jī)連接，所述數(shù)碼管與所述兩個鎖存器連接，所述單片機(jī)控制鎖存器驅(qū)動數(shù)碼管進(jìn)行顯示。
[0025]采用以上技術(shù)方案，本發(fā)明取得了以下技術(shù)效果:
[0026]本發(fā)明提供的基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試方法和裝置，能夠設(shè)置測試次數(shù)并通過程序控制繼電器進(jìn)行反復(fù)勵磁、能夠?qū)τ|點進(jìn)行實時檢測并報警;能夠檢測觸點壓降、檢測繼電器動作延時，能對繼電器的各項性能進(jìn)行全面檢測。
【附圖說明】
[0027]圖1為本發(fā)明密封性繼電器性能測試裝置的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0028]圖2為本發(fā)明密封性繼電器性能測試裝置的繼電器驅(qū)動模塊的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0029]圖3為本發(fā)明密封性繼電器性能測試裝置的繼電器連接模塊的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0030]圖4為本發(fā)明密封性繼電器性能測試裝置的設(shè)置模塊的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0031]圖5為本發(fā)明密封性繼電器性能測試裝置的顯示模塊的電路結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0032]本發(fā)明提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試方法，包括以下步驟:
[0033](I)調(diào)用模數(shù)轉(zhuǎn)換子程序及IIC協(xié)議，讀取觸點輸入電壓；
[0034](2)判斷繼電器輸出命令，選擇數(shù)字量范圍；
[0035](3)判斷數(shù)字量回檢輸入是否正常，若是，測試次數(shù)減I，繼電器輸出命令取反，并執(zhí)行下一步，若否，調(diào)用報警子程序；
[0036](4)調(diào)用顯示子程序，控制顯示模塊顯示設(shè)置及測試次數(shù)，并返回到步驟(I)重新執(zhí)行。
[0037]在所述步驟(I)之前還包括按鍵檢測步驟，所述按鍵檢測步驟包括:
[0038](I)檢測設(shè)置鍵是否按下，若是，延時抖動，若否，執(zhí)行下一步；
[0039](2)再次檢測設(shè)置鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(I);
[0040](3)檢測加測試次數(shù)鍵和減測試次數(shù)鍵是否按下，若是，延時抖動，若否，執(zhí)行下一步；
[0041](4)再次檢測加測試次數(shù)鍵和減測試次數(shù)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(3);
[0042](5)檢測確認(rèn)鍵是否按下，若是，延時抖動，若否，執(zhí)行下一步；
[0043](6)再次檢測確認(rèn)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(5)。
[0044]在主程序中首先進(jìn)行按鍵檢測，按鍵由使用者手動按下，當(dāng)按下時單片機(jī)檢測到一個低電平。設(shè)置模塊共設(shè)四個按鍵，分別為設(shè)置鍵、加測試次數(shù)鍵，減測試次數(shù)鍵和確認(rèn)鍵。設(shè)置鍵按下后，可以通過加測試次數(shù)鍵和減測試次數(shù)鍵設(shè)置測試次數(shù)，并按下確認(rèn)鍵開始進(jìn)行測試。然后進(jìn)行繼電器勵磁檢測，首先對繼電器當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行判斷，若觸點為吸起狀態(tài)，則四個觸點檢測到的模擬電壓值標(biāo)準(zhǔn)為4V以上，否則為IV以下。當(dāng)四個觸點檢測到的模擬電壓值均在符合標(biāo)準(zhǔn)時，此時執(zhí)行計數(shù)減I，繼電器勵磁命令取反;在任何一個循環(huán)內(nèi)如果四個觸點檢測到的模擬電壓值不在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則調(diào)用報警子程序輸出報警命令。
[0045]在進(jìn)行繼電器勵磁檢測的同時還可以進(jìn)行觸點壓降檢測，本發(fā)明采用PCF8591芯片實現(xiàn)數(shù)模轉(zhuǎn)換，所述芯片與單片機(jī)通過IIC協(xié)議進(jìn)行通信，單片機(jī)通過調(diào)用電壓值，并對電壓值進(jìn)行取整。當(dāng)SlMV時，a = 4;當(dāng)S1〈1V時，a = 0。由此可以判斷觸點壓降，同時也可在程序中對此參數(shù)進(jìn)行修改。
[0046]還可以進(jìn)行繼電器的動作延時判斷，在主程序中設(shè)置參數(shù)j，在執(zhí)行主循環(huán)時首先對j進(jìn)行判斷。當(dāng)j = 200時執(zhí)行繼電器動作并將j置零，當(dāng)j在200時則僅判斷繼電器狀態(tài)是否符合標(biāo)準(zhǔn)。結(jié)合晶振頻率可通過對j的最大值進(jìn)行調(diào)整來判斷繼電器的動作延時是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0047]如圖1所示，本發(fā)明還提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測試裝置，包括:單片機(jī)、用于設(shè)置測試次數(shù)和啟動程序的設(shè)置模塊、用于將繼電器的模擬輸入信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動模塊、用于接入繼電器的繼電器連接模塊和在判斷出繼電器誤動作或不滿足標(biāo)準(zhǔn)時進(jìn)行報警的報警模塊，所述設(shè)置模塊、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動模塊以及報警模塊均與所述單片機(jī)連接，所述繼電器連接模塊分別與所述繼電器驅(qū)動模塊和所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0048]如圖2所示，所述繼電器驅(qū)動模塊包括三極管Ql和三極管Q2以及一個單刀雙擲開關(guān)K3，單片機(jī)的繼電器控制命令引腳與單刀雙擲開關(guān)K3的控制端連接，單刀雙擲開關(guān)K3—端為三極管Ql的基極，另一端為三極管Q2的基極，三極管Ql的集電極