一種金相試樣打磨裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種金相試樣打磨裝置，為了提高金相試樣打磨的效率，保持實驗過程的清潔衛(wèi)生，節(jié)約砂紙的用量。本實用新型提供了一種金相試樣打磨裝置，包括長方體構(gòu)型的裝置樣身（2），裝置樣身（2）上設(shè)有樣品槽（1）、標(biāo)簽槽（3）、打磨槽（5），打磨槽（5）底面設(shè)有圓柱體凸體（6），圓柱體凸體（6）上設(shè)有與其卡合的蓋板（7），裝置樣身（2）前側(cè)面設(shè)有與其連通且向內(nèi)部延伸的中空槽（4）。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，成本低，適合推廣實用。
【專利說明】
一種金相試樣打磨裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種打磨裝置，特別是涉及一種金相試樣打磨裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在材料科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域中，一般都會進行金相分析的實驗，因此就需要制備用于微觀觀察檢驗的金相試樣樣品。金相試樣在制備的過程中需要經(jīng)過打磨、拋光等步驟。金相試樣打磨過程需要將試樣在砂紙上不斷打磨。打磨的過程中，開始需要經(jīng)過粗砂紙將試樣需要打磨的一面上較大的坑洼打磨平整，然后再經(jīng)過細(xì)砂紙將試樣需要打磨的一面上的細(xì)小劃痕打磨平整，之后進行下一步拋光過程。砂紙的粒徑包括280#、320#，400#、500#、600#、800#、1000#等，粗細(xì)各不相同，金相試樣打磨過程中就需要根據(jù)具體材料選擇以上粒徑不同的砂紙，從粗到細(xì)依次打磨。為了保證試樣被打磨的平整，需要在砂紙下墊上一塊平板，將砂紙平鋪在平板上，一手捏住試樣，一手按住砂紙，從靠近身體的一方向前方做單方向依次打磨。通過以上的打磨方式，首先，需要一手固定住砂紙，一手捏住試樣進行打磨，但進行試樣的粗磨時，由于試樣與砂紙的摩擦阻力較大導(dǎo)致砂紙容易跑動，增加了操作的負(fù)擔(dān);其次，打磨過程中砂紙上的細(xì)砂會灑落到桌面等地方，很難打掃;再次，在整張砂紙上進行打磨會導(dǎo)致砂紙的邊角等地方?jīng)]被打磨到，容易造成砂紙的浪費。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的是解決上述問題，提供一種有利于減輕操作負(fù)擔(dān)，保持實驗衛(wèi)生，節(jié)約砂紙的金相試樣打磨裝置。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種金相試樣打磨裝置，包括裝置樣身(2)，其特征為，裝置樣身(2)為長方體構(gòu)型，裝置樣身(2)上設(shè)有樣品槽(1)、標(biāo)簽槽(3)、打磨槽(5)，打磨槽(5)底面下端中間部位設(shè)有圓柱體凸體(6)，圓柱體凸體(6)上設(shè)有與其卡合的蓋板(7)，裝置樣身(2)前側(cè)面設(shè)有與其連通且向內(nèi)部延伸的中空槽(4)。
[0005]所述打磨槽(5)為長方體構(gòu)型。
[0006]所述長方體構(gòu)型打磨槽(5)各個面與裝置樣身(2)的各個面對應(yīng)面相互平行。
[0007]所述打磨槽(5)沿裝置樣身(2)整個長度方向分布。
[0008]所述蓋板(7)的長度小于打磨槽(5)底邊長度。
[0009]所述蓋板(7)中心位置上設(shè)有圓柱體嵌套孔洞(8)。
[0010]所述蓋板(7)上圓柱體嵌套孔洞(8)的內(nèi)徑與圓柱體凸體(6)的外徑相同。
[0011]所述中空槽(4)向裝置樣身(2)內(nèi)部延伸的距離為裝置樣身(2)對應(yīng)邊長的1/3?I/2。
[0012]本實用新型可提高金相試樣打磨的效率，保持實驗過程的清潔衛(wèi)生，節(jié)約砂紙的用量，且本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，成本低，可用于推廣使用。
【附圖說明】
[0013]圖1為一種金相試樣打磨裝置的示意圖。
[0014]圖2為蓋板的示意圖。
【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
[0016]]如圖1所示，一種金相試樣打磨裝置，包括裝置樣身(2)，裝置樣身(2)為長方體構(gòu)型，裝置樣身(2)上設(shè)有樣品槽(I)、標(biāo)簽槽(3)、打磨槽(5)，打磨槽(5)底面下端中間部位設(shè)有圓柱體凸體(6)，圓柱體凸體(6)上設(shè)有與其卡合的蓋板(7)，裝置樣身(2)前側(cè)面設(shè)有與其連通且向內(nèi)部延伸的中空槽(4)。
[0017]如圖2所示為蓋板(7)，蓋板(7)中心設(shè)有圓柱體嵌套孔洞(8)，圓柱體嵌套孔洞(8)的內(nèi)徑與圓柱體凸體(6)外徑相等。
[0018]使用時，將裝置放于水平的桌面上，將實驗需要的粗砂紙和細(xì)砂紙裁剪成與打磨槽(5)相匹配的長方形長條狀，然后將裝置上的蓋板(7)拆下，將砂紙的一端固定在圓柱體凸體(6)上，使圓柱體凸體(6)穿透砂紙，使砂紙背面與打磨槽(5)底面相貼合，之后再將蓋板(7)與圓柱體凸體(6)卡合，將砂紙壓緊、固定，重復(fù)上述步驟依次將實驗所需的砂紙固定在打磨槽(5)中。
[0019]在打磨槽(5 )上端標(biāo)簽槽(3 )對應(yīng)位置中標(biāo)明砂紙的粒徑大小。
[0020]將待打磨試樣放在打磨槽(5)左邊的樣品槽(I)中。
[0021]打磨過程中，用手捏住試樣，放在打磨槽(5)中預(yù)先安置好的砂紙上，從打磨槽(5)底端向前做單方向依次打磨，在粗砂紙上結(jié)束打磨后，更換打磨槽(5)，在含有細(xì)砂紙的打磨槽(5)上進行打磨，如若砂紙不夠可更換砂紙。打磨過程中，打磨槽(5 )的深度可保證砂紙上脫落的細(xì)砂不會灑落到桌面上。
[0022]打磨結(jié)束后用完的廢棄砂紙可收入中空槽(4)中，以免破壞實驗室環(huán)境。
【主權(quán)項】
1.一種金相試樣打磨裝置，包括裝置樣身(2)，其特征為，裝置樣身(2)為長方體構(gòu)型，裝置樣身(2)上設(shè)有樣品槽(I)、標(biāo)簽槽(3)、打磨槽(5)，打磨槽(5)底面下端中間部位設(shè)有圓柱體凸體(6)，圓柱體凸體(6)上設(shè)有與其卡合的蓋板(7)，裝置樣身(2)前側(cè)面設(shè)有與其連通且向內(nèi)部延伸的中空槽(4)。2.如權(quán)利要求1所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述打磨槽(5)為長方體構(gòu)型。3.如權(quán)利要求2所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述長方體構(gòu)型打磨槽(5)的各個面與裝置樣身(2)的各個對應(yīng)面相互平行。4.如權(quán)利要求1所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述打磨槽(5)沿裝置樣身(2)整個長度方向分布。5.如權(quán)利要求1所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述蓋板(7)的長度小于打磨槽(5)底邊長度。6.如權(quán)利要求1所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述蓋板(7)中心位置上設(shè)有圓柱體嵌套孔洞(8)。7.如權(quán)利要求6所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述蓋板(7)上圓柱體嵌套孔洞(8)的內(nèi)徑與圓柱體凸體(6)的外徑相同。8.如權(quán)利要求1所述的一種金相試樣打磨裝置，其特征是所述中空槽(4)向裝置樣身(2)內(nèi)部延伸的距離為裝置樣身(2)對應(yīng)邊長的1/3?1/2。
【文檔編號】G01N1/32GK205538403SQ201620325571
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年4月19日
【發(fā)明人】劉旭冉, 金應(yīng)榮, 查小月, 劉琴, 李樹艷
【申請人】西華大學(xué)