一種自動微調(diào)通用測試治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型屬于電路板測試治具領(lǐng)域，具體的是指一種自動微調(diào)通用測試治具，包括底板，底板上設(shè)有十字滑臺，十字滑臺上設(shè)有下探針固定板，所述下探針固定板上方設(shè)有安裝至底板的安裝架，安裝架上設(shè)有下壓氣缸，下壓氣缸的活塞桿固定連接一X軸線型模組，X軸線型模組的滑塊上設(shè)置有Y軸線型模組，Y軸線型模組的滑塊上固定一上探針固定板，所述下探針固定板和上探針固定板均設(shè)有探針，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是，由于上下控針固定板均可沿X軸和Y軸方向自由活動，可以進行微調(diào)，從而適應多種不同電路板的測試要求。
【專利說明】
一種自動微調(diào)通用測試治具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型屬于電路板測試治具領(lǐng)域，具體的是指一種自動微調(diào)通用測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著人們生活水平的提高，電子產(chǎn)品日益進入人們的日常生活中；然而在消費性電子產(chǎn)品中，電路板在手機、筆記本、PDA等電子產(chǎn)品使用極為廣泛，電路板因制程較復雜，且工藝較高，容易出現(xiàn)電路板線路，功能等不良，若不良品組裝到產(chǎn)品中，將嚴重影響該產(chǎn)品功能；但是現(xiàn)有的檢測治具都是固定結(jié)構(gòu)，不能進行微調(diào)，一般只能專門測試一種電路板，不能兼容測試不同的電路板，如何生產(chǎn)出一種能夠進行微調(diào)并且兼容測試多種電路板是人們尚待解決的冋題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型為了克服現(xiàn)有技術(shù)之不足，提出了一種可以兼容測試不同的電路板的通用測試治具。
[0004]本實用新型是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的。
[0005]—種自動微調(diào)通用測試治具，包括底板，底板上設(shè)有十字滑臺，十字滑臺上設(shè)有下探針固定板，所述下探針固定板上方設(shè)有安裝至底板的安裝架，安裝架上設(shè)有下壓氣缸，下壓氣缸的活塞桿固定連接一 X軸線型模組，X軸線型模組的滑塊上設(shè)置有Y軸線型模組，Y軸線型模組的滑塊上固定一上探針固定板，所述下探針固定板和上探針固定板均設(shè)有探針。
[0006]更具體的，所述探針與測試儀器連接。
[0007]更具體的，所述X軸線型模組通過兩根導柱滑動連接至安裝架。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是，由于上下控針固定板均可沿X軸和Y軸方向自由活動，可以進行微調(diào)，從而適應多種不同電路板的測試要求。
【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面結(jié)合附圖給出本實用新型較佳實施例，以詳細說明本實用新型的技術(shù)方案。
[0011]如圖1，一種自動微調(diào)通用測試治具的實施例，包括底板I，底板I上設(shè)有十字滑臺2，十字滑臺2上設(shè)有下探針固定板3，所述下探針固定板上方3設(shè)有安裝至底板I的安裝架6，安裝架6上設(shè)有下壓氣缸8，下壓氣缸8的活塞桿固定連接一X軸線型模組9，X軸線型模組9的滑塊上設(shè)置有Y軸線型模組5，Y軸線型模組5的滑塊上固定一上探針固定板4，所述下探針固定板3和上探針固定板4均設(shè)有探針7。
[0012]工作原理:
[0013]將電路板放置在下探針固定板3上，此時上探針固定板4下移接觸電路板，使電路板通過探針與測試儀器形成測試回路;對于不同的電路板，可以通過下方的十字滑臺和上方的X軸、Y軸線型模組進行微調(diào)，從而改變探針的位置，以適應不同的電路板。
[0014]雖然以上描述了本實用新型的【具體實施方式】，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應當理解，這些僅是舉例說明，本實用新型的保護范圍是由所附權(quán)利要求書限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背離本實用新型的原理和實質(zhì)的前提下，可以對這些實施方式做出多種變更或修改，但這些變更和修改均落入本實用新型的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種自動微調(diào)通用測試治具，其特征在于，包括底板，底板上設(shè)有十字滑臺，十字滑臺上設(shè)有下探針固定板，所述下探針固定板上方設(shè)有安裝至底板的安裝架，安裝架上設(shè)有下壓氣缸，下壓氣缸的活塞桿固定連接一 X軸線型模組，X軸線型模組的滑塊上設(shè)置有Y軸線型模組，Y軸線型模組的滑塊上固定一上探針固定板，所述下探針固定板和上探針固定板均設(shè)有探針。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動微調(diào)通用測試治具，其特征在于，所述探針與測試儀器連接。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的自動微調(diào)通用測試治具，其特征在于，所述X軸線型模組通過兩根導柱滑動連接至安裝架。
【文檔編號】G01R31/28GK205562746SQ201620237255
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年3月24日
【發(fā)明人】蒙紅花
【申請人】東莞市紫楨電子有限公司