本申請涉及計算機，特別涉及一種固態(tài)硬盤檢測方法、裝置、設備及可讀存儲介質(zhì)。

背景技術：

1、固態(tài)硬盤(solid?state?disk，ssd)通常包括多顆nand?flash，每顆nand?flash包含多個die，其中每個die都可以通過內(nèi)嵌的溫度傳感器獨立的獲取溫度。當某個die出現(xiàn)損壞后，其內(nèi)嵌的溫度傳感器可能也會出現(xiàn)異常，此時獲取到溫度可能會極高或極低。若將這樣的異常溫度反饋給盤控制器，盤控制器會錯誤的認為盤處于高溫或低溫環(huán)境，就會對盤進行降頻或使盤進入只讀保護模式，從而影響盤的正常工作。如果只是某個die損壞，盤具有的自修復功能其實能保證盤的正常運行。并且當前在判定die中某一個塊的溫度異常后，會直接標記該die損壞，這很可能對能自我修復的die進行錯誤判定，會減少盤使用空間，造成盤空間浪費。

2、因此，如何提高固態(tài)硬盤的檢測準確率，是本領域技術人員需要解決的問題。

技術實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請的目的在于提供一種固態(tài)硬盤檢測方法、裝置、設備及可讀存儲介質(zhì)，以提高固態(tài)硬盤的檢測準確率。其具體方案如下：

2、第一方面，本申請?zhí)峁┝艘环N固態(tài)硬盤檢測方法，包括：

3、讀取固態(tài)硬盤中的目標die的目標溫度；

4、若所述目標溫度異常，則在所述目標die中確定一個以上空閑塊，并對所述空閑塊進行io操作檢測；

5、統(tǒng)計io操作檢測報錯的空閑塊的數(shù)量；

6、若所述數(shù)量超過預設數(shù)量閾值，則將所述目標die標記為異常。

7、可選地，所述io操作為：為完成主機業(yè)務的讀操作、寫操作或擦除操作；或為檢測所述目標die生成的讀操作。

8、可選地，還包括：

9、判斷所述目標溫度是否超出預設溫度范圍；

10、若所述目標溫度超出所述預設溫度范圍，則確定所述目標溫度異常；否則確定所述目標溫度正常；

11、和/或

12、讀取與所述目標die在物理位置上相鄰的鄰居die的第一溫度均值；

13、若目標溫度與所述第一溫度均值的差異超過預設第一閾值，則確定所述目標溫度異常；否則確定所述目標溫度正常；

14、和/或

15、計算當前完成io操作的多個die的第二溫度均值；

16、若目標溫度與所述第二溫度均值的差異超過預設第二閾值，則確定所述目標溫度異常；否則確定所述目標溫度正常。

17、可選地，還包括：

18、若所述目標溫度正常或?qū)⑺瞿繕薲ie標記為異常之后，等待預設時長后，再次讀取目標die的目標溫度，并執(zhí)行后續(xù)步驟。

19、可選地，所述對所述空閑塊進行io操作檢測，包括：

20、對每一空閑塊分別進行讀操作、寫操作和擦除操作；

21、若讀操作、寫操作和擦除操作中的至少一項報錯，則確定相應空閑塊為io操作檢測報錯的空閑塊；否則，確定相應空閑塊為io操作檢測未報錯的空閑塊。

22、可選地，還包括：

23、若所述數(shù)量未超過預設數(shù)量閾值，則將io操作檢測報錯的空閑塊標記為壞塊，將io操作檢測未報錯的空閑塊標記為正常塊，將所述目標die標記為可讀寫擦模式。

24、可選地，所述將所述目標die標記為異常之前，還包括：

25、將io操作檢測報錯的空閑塊標記為壞塊，將io操作檢測未報錯的空閑塊標記為正常塊；

26、將所述目標die中的數(shù)據(jù)搬移至溫度正常的die。

27、可選地，所述將所述目標die標記為異常之后，還包括：

28、若到達所述固態(tài)硬盤的點膠質(zhì)量檢修時刻，則在所述固態(tài)硬盤未進行點膠修復的情況下，標記所述固態(tài)硬盤為問題盤，以便對所述問題盤進行點膠修復；在所述固態(tài)硬盤已進行點膠修復的情況下，標記所述固態(tài)硬盤為次品盤；

29、若未到達所述固態(tài)硬盤的點膠質(zhì)量檢修時刻，則重復檢測所述固態(tài)硬盤中各個die的溫度。

30、第二方面，本申請?zhí)峁┝艘环N固態(tài)硬盤檢測裝置，包括：

31、讀取模塊，用于讀取固態(tài)硬盤中的目標die的目標溫度；

32、檢測模塊，用于若所述目標溫度異常，則在所述目標die中確定一個以上空閑塊，并對所述空閑塊進行io操作檢測；

33、統(tǒng)計模塊，用于統(tǒng)計io操作檢測報錯的空閑塊的數(shù)量；

34、處理模塊，用于若所述數(shù)量超過預設數(shù)量閾值，則將所述目標die標記為異常。

35、第三方面，本申請?zhí)峁┝艘环N電子設備，包括：

36、存儲器，用于存儲計算機程序；

37、處理器，用于執(zhí)行所述計算機程序，以實現(xiàn)前述公開的固態(tài)硬盤檢測方法。

38、第四方面，本申請?zhí)峁┝艘环N可讀存儲介質(zhì)，用于保存計算機程序，其中，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)前述公開的固態(tài)硬盤檢測方法。

39、通過以上方案可知，本申請?zhí)峁┝艘环N固態(tài)硬盤檢測方法，包括：讀取固態(tài)硬盤中的目標die的目標溫度；若所述目標溫度異常，則在所述目標die中確定一個以上空閑塊，并對所述空閑塊進行io操作檢測；統(tǒng)計io操作檢測報錯的空閑塊的數(shù)量；若所述數(shù)量超過預設數(shù)量閾值，則將所述目標die標記為異常。

40、可見，本申請在確定固態(tài)硬盤中的目標die的目標溫度異常后，進一步檢測其中的空閑塊來確定該目標die是否真的損壞，由此能避免檢測過程對正常讀寫操作的影響。具體的，對目標die中的空閑塊進行io操作檢測，在io操作檢測報錯的空閑塊的數(shù)量超過預設數(shù)量閾值時，才將目標die標記為異常，能夠給溫度異常的die預留足夠的自我修復時間和機會，一定程度上可以降低誤判率，提高固態(tài)硬盤的檢測準確率和使用壽命，避免盤空間的浪費，也有利于保障前端業(yè)務的可持續(xù)性。

41、相應地，本申請?zhí)峁┑囊环N固態(tài)硬盤檢測裝置、設備及可讀存儲介質(zhì)，也同樣具有上述技術效果。

技術特征：

1.一種固態(tài)硬盤檢測方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述io操作為：為完成主機業(yè)務的讀操作、寫操作或擦除操作；或為檢測所述目標die生成的讀操作。

3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

4.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述空閑塊進行io操作檢測，包括：

6.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

7.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述目標die標記為異常之前，還包括：

8.根據(jù)權利要求1至7任一項所述的方法，其特征在于，所述將所述目標die標記為異常之后，還包括：

9.一種固態(tài)硬盤檢測裝置，其特征在于，包括：

10.一種電子設備，其特征在于，包括：

11.一種可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，用于保存計算機程序，其中，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權利要求1至8任一項所述的方法。

技術總結(jié)
本申請公開了計算機技術領域內(nèi)的一種固態(tài)硬盤檢測方法、裝置、設備及可讀存儲介質(zhì)。本申請在確定固態(tài)硬盤中的目標Die的目標溫度異常后，進一步檢測其中的空閑塊來確定該目標Die是否真的損壞，由此能避免檢測過程對正常讀寫操作的影響。具體的，對目標Die中的空閑塊進行IO操作檢測，在IO操作檢測報錯的空閑塊的數(shù)量超過預設數(shù)量閾值時，才將目標Die標記為異常，能夠給溫度異常的Die預留足夠的自我修復時間和機會，一定程度上可以降低誤判率，提高固態(tài)硬盤的檢測準確率和使用壽命，避免盤空間的浪費，也有利于保障前端業(yè)務的可持續(xù)性。

技術研發(fā)人員：萬紅波,曹振波,楊穎,陳祥
受保護的技術使用者：深圳大普微電子股份有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/5/8