測(cè)試夾具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種測(cè)試夾具，能夠放置待測(cè)電子元件并通過(guò)檢測(cè)單元對(duì)所述待測(cè)電子元件進(jìn)行檢測(cè)，所述測(cè)試夾具包括基座以及設(shè)置于所述基座上的至少一套測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊包括與所述基座分體式設(shè)置的芯部組件以及鉸接于所述基座的上蓋，所述基座上開設(shè)有凹陷部，所述芯部組件能夠放置于所述凹陷部?jī)?nèi)并且與所述檢測(cè)單元電性連接，所述芯部組件包括測(cè)試針板以及堆疊設(shè)置于所述測(cè)試針板上、用于放置所述待測(cè)電子元件的載板，位于所述測(cè)試針板上的測(cè)試針能夠穿過(guò)所述載板并與所述待測(cè)電子元件的測(cè)試點(diǎn)相接觸，所述上蓋能夠蓋合于所述載板上。這種測(cè)試夾具，更換時(shí)僅需更換芯部組件即可，重量低，成本低。
【專利說(shuō)明】
測(cè)試夾具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及夾具領(lǐng)域，具體來(lái)說(shuō)，本實(shí)用新型涉及一種用于對(duì)電子元件等進(jìn)行檢測(cè)的測(cè)試夾具?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]測(cè)試夾具，被廣泛應(yīng)用于測(cè)試車間，用于對(duì)新生產(chǎn)的電子元件或返修電子元件等進(jìn)行檢測(cè)，以判斷該電子元件的性能。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，測(cè)試夾具通常包括基座與上蓋，上蓋與基座鉸接，上蓋通過(guò)移動(dòng)能夠打開或蓋合于基座上?；惑w地設(shè)置有載板，該載板上開設(shè)測(cè)試槽，用于放置待測(cè)電子元件，載板的下方設(shè)置測(cè)試針板。當(dāng)需要測(cè)試時(shí)，將待測(cè)電子元件放置于位于載板的測(cè)試槽內(nèi)，將上蓋蓋合于基座上，此時(shí)，操作基座內(nèi)的測(cè)試針板使其向上移動(dòng)以使得測(cè)試針與載板上的測(cè)試點(diǎn)接觸，從而通過(guò)與測(cè)試針板電性連接的檢測(cè)單元對(duì)該待測(cè)電子元件進(jìn)行檢測(cè)并產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果。
[0004]現(xiàn)有的這種測(cè)試夾具，其為一體式，其重量較大，而待測(cè)電子元件具有多樣性，其測(cè)試點(diǎn)的位置構(gòu)造亦不相同，故當(dāng)需要測(cè)試不同的待測(cè)電子元件時(shí)，需要整體更換不同的測(cè)試夾具，人力搬運(yùn)辛苦且成本高。此外，更換測(cè)試夾具時(shí)需將位于上蓋上的掃碼器等一起更換，這進(jìn)一步提高了成本?！緦?shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種測(cè)試夾具，其能夠減輕搬運(yùn)的重量并且降低成本。
[0006]為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案:一種測(cè)試夾具，能夠放置待測(cè)電子元件并通過(guò)檢測(cè)單元對(duì)所述待測(cè)電子元件進(jìn)行檢測(cè)，所述測(cè)試夾具包括基座以及設(shè)置于所述基座上的至少一套測(cè)試模塊，所述測(cè)試模塊包括與所述基座分體式設(shè)置的芯部組件以及鉸接于所述基座的上蓋，所述基座上開設(shè)有凹陷部，所述芯部組件能夠放置于所述凹陷部?jī)?nèi)并且與所述檢測(cè)單元電性連接，所述芯部組件包括測(cè)試針板以及堆疊設(shè)置于所述測(cè)試針板上、用于放置所述待測(cè)電子元件的載板，位于所述測(cè)試針板上的測(cè)試針能夠穿過(guò)所述載板并與所述待測(cè)電子元件的測(cè)試點(diǎn)相接觸，所述上蓋能夠蓋合于所述載板上。
[0007]優(yōu)選地，所述凹陷部包括底壁以及圍于所述底壁周邊的側(cè)壁，所述底壁上設(shè)置有多根與所述檢測(cè)單元電性連接的第一連接針，所述載板上設(shè)置有多個(gè)分別與各所述第一連接針電接觸的第一接觸點(diǎn)；所述載板上還設(shè)置有多個(gè)第二接觸點(diǎn)，所述第二接觸點(diǎn)與所述第一接觸點(diǎn)電性連接，所述測(cè)試針板上設(shè)置有多根分別與各所述第二接觸點(diǎn)電接觸的第二連接針。
[0008]優(yōu)選地，所述底壁上開設(shè)有容置孔，所述載板的周向尺寸大于所述容置孔的周向尺寸，當(dāng)所述芯部組件放置于所述凹陷部?jī)?nèi)時(shí)，所述芯部組件通過(guò)所述載板進(jìn)行限位。
[0009]優(yōu)選地，所述測(cè)試針板遠(yuǎn)離所述載板的一側(cè)形成有多個(gè)電接觸點(diǎn)以及多根連接導(dǎo)線，所述測(cè)試針板上設(shè)置有罩在所述多個(gè)電接觸點(diǎn)以及所述多根連接導(dǎo)線的罩殼，所述罩殼位于所述容置孔中。
[0010]優(yōu)選地，所述載板的頂部設(shè)置有握持部件。[〇〇11]優(yōu)選地，所述載板和/或所述測(cè)試針板的底部設(shè)置有多根導(dǎo)向桿，所述凹陷部設(shè)置有多個(gè)分別用于各所述導(dǎo)向桿穿入的導(dǎo)向孔。
[0012]優(yōu)選地，所述上蓋靠近所述基座一側(cè)的表面上設(shè)置有多根用于壓住所述待測(cè)電子元件的壓棒。
[0013]優(yōu)選地，所述基座內(nèi)設(shè)置有與所述基座的頂部相連的操作氣缸，當(dāng)所述上蓋蓋合于所述載板時(shí)，所述操作氣缸拉動(dòng)所述基座的頂部以使得所述測(cè)試針穿過(guò)所述載板。
[0014]優(yōu)選地，所述上蓋包括框體以及可拆卸地設(shè)置于所述框體上的蓋體，所述框體鉸接于所述基座上，所述壓棒設(shè)置于所述蓋體上。
[0015]優(yōu)選地，所述蓋體為透明材質(zhì)，所述測(cè)試夾具還包括掃碼器，所述掃碼器可拆卸地連接于所述蓋體遠(yuǎn)離所述基座一側(cè)的表面上。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果在于:
[0017]1、在適用于不同的待測(cè)電子元件時(shí)，無(wú)需更換整套測(cè)試夾具，僅需更換芯部組件即可，因此，重量低，成本低；
[0018]2、通過(guò)操作氣缸拉動(dòng)基座以使得壓棒對(duì)載板施加下壓力，從而使測(cè)試針穿過(guò)載板能夠與待測(cè)電子元件的測(cè)試點(diǎn)接觸，這方便了待測(cè)電子元件在載板上的初始放置；
[0019]3、上蓋采用框體與蓋體組成的可拆卸結(jié)構(gòu)，可以根據(jù)不同的待測(cè)電子元件更換不同的蓋體，使得蓋體上的壓棒可以更好地壓在待測(cè)電子元件上；
[0020]4、掃碼器與蓋體可拆卸連接，使得在更換蓋體時(shí)，可將掃碼器與其拆卸，之后，將該掃碼器安裝于新的蓋體即可，而無(wú)需給每個(gè)蓋體預(yù)先配置掃碼器。【附圖說(shuō)明】[0021 ]圖1為本實(shí)用新型的測(cè)試夾具的一種實(shí)施例的示意圖；
[0022]圖2是圖1中，省去左側(cè)蓋體、掃碼器以及芯部組件的示意圖；
[0023]圖3是蓋體、掃碼器以及芯部組件的示意圖；
[0024]圖4是圖1中芯部組件的立體示意圖；
[0025]圖5是圖4的主視圖；
[0026]圖6是圖4的右視圖；
[0027]圖7是圖1中，省去基座前半部分外殼的結(jié)構(gòu)示意圖。[〇〇28] 附圖標(biāo)記說(shuō)明
[0029]1-基座；110-凹陷部；1101-底壁；1102-側(cè)壁；12-芯部組件；121-第一接觸點(diǎn)；122-載板；123-測(cè)試針板；124-握持部件；125-罩殼；126-第二連接針；127-導(dǎo)向桿；128-第二接觸點(diǎn)；2-上蓋;21-框體;22-蓋體;23-螺栓;24-拉手;25-鉤部;3-壓棒;4-第一連接針;5-容置孔;6-掃碼器;7-支架;8-操作氣缸;9-鎖止氣缸?！揪唧w實(shí)施方式】
[0030]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本實(shí)用新型的限定。
[0031]本實(shí)用新型所涉及的為測(cè)試夾具，其用于對(duì)電子元件的性能進(jìn)行檢測(cè)，本實(shí)用新型之改進(jìn)點(diǎn)在于，通過(guò)芯部組件的可拆裝結(jié)構(gòu)，使得其便于依不同的待測(cè)電子元件更換不同的芯部組件。
[0032]常規(guī)地，測(cè)試夾具，能夠放置待測(cè)電子元件，并且通過(guò)檢測(cè)單元對(duì)該待測(cè)電子元件進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)待測(cè)電子元件放置于測(cè)試夾具時(shí)，檢測(cè)單元?jiǎng)t可以與待測(cè)電子元件電性連接， 該檢測(cè)單元可以為編程器等。
[0033]圖1至圖3分別示出了該測(cè)試夾具一個(gè)實(shí)施例的整體結(jié)構(gòu)以及局部結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型的測(cè)試夾具包括基座1以及設(shè)置于基座1上的測(cè)試模塊(圖中未標(biāo)示)，其中，圖1及2中以兩套結(jié)構(gòu)相同的測(cè)試模塊共同采用同一個(gè)基座1進(jìn)行示例。當(dāng)然，也可以一套測(cè)試模塊采用一個(gè)基座1，或者是，多于兩套測(cè)試模塊采用一個(gè)基座。容易理解的是，當(dāng)兩套以上測(cè)試模塊共用一個(gè)基座時(shí)，更節(jié)省成本，并且能夠提高工作效率。
[0034]也即，本實(shí)用新型的測(cè)試夾具包括基座1以及設(shè)于基座1上的至少一套測(cè)試模塊， 每套測(cè)試模塊均包括與基座1配合設(shè)置的上蓋2和芯部組件12,接下來(lái)以一套測(cè)試模塊與基座1的配合進(jìn)行描述說(shuō)明。[〇〇35]參見(jiàn)圖1至圖3,本實(shí)用新型的測(cè)試模塊，包括與基座1分體式設(shè)置的芯部組件12以及鉸接于基座1的上蓋2?；?上開設(shè)有凹陷部110,芯部組件12能夠放置于該基座1的凹陷部110內(nèi)并且與檢測(cè)單元(圖中未示出)電性連接。如圖3所示，芯部組件12包括測(cè)試針板123 以及堆疊設(shè)置于測(cè)試針板123上、用于放置待測(cè)電子元件的載板122,載板122與測(cè)試針板 123可以通過(guò)螺栓等部件實(shí)現(xiàn)機(jī)械連接。位于測(cè)試針板123上的測(cè)試針能夠穿過(guò)載板122并與待測(cè)電子元件(圖中未示出)的測(cè)試點(diǎn)相接觸。請(qǐng)結(jié)合圖1及圖3所示，上蓋2能夠蓋合于載板122上，以保證測(cè)試過(guò)程不受干擾。[〇〇36] 如圖1及圖3所示，上蓋2上設(shè)置有拉手24,當(dāng)需要檢測(cè)電子元件時(shí)，拉動(dòng)拉手24打開上蓋2,將待測(cè)電子元件放置于載板122上，可以在該載板122上設(shè)置與待測(cè)電子元件形狀匹配的測(cè)試槽(圖中未示出)，以便將待測(cè)電子元件放入，此時(shí)，待測(cè)電子元件大致與載板 122的上表面處于同一平面。上蓋2靠近基座1 一側(cè)的表面上設(shè)置有多根用于壓住待測(cè)電子元件的壓棒3。在放入待測(cè)電子元件之后，蓋合上蓋2使得壓棒3壓在待測(cè)電子元件上，此時(shí)， 即可對(duì)該待測(cè)電子元件進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)需要對(duì)檢測(cè)點(diǎn)位置不同的其他待測(cè)電子元件進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，僅需更換芯部組件12以適應(yīng)檢測(cè)點(diǎn)位置和其他要求即可，而無(wú)需更換整個(gè)夾具，因而減輕了操作人員的搬運(yùn)重量，此外，也節(jié)省了成本。[〇〇37] 如圖2所示，凹陷部110包括底壁1101以及圍于底壁1101周邊的側(cè)壁1102,底壁 1101上設(shè)置有多根與檢測(cè)單元電性連接的第一連接針4,載板122上設(shè)置有多個(gè)分別與各第一連接針4電接觸的第一接觸點(diǎn)121;載板122上還設(shè)置有多個(gè)第二接觸點(diǎn)128，該第二接觸點(diǎn)128與第一接觸點(diǎn)121電性連接。如圖3所示，測(cè)試針板123上設(shè)置有多根分別與各第二接觸點(diǎn)128電接觸的第二連接針126。這種結(jié)構(gòu)，檢測(cè)單元并沒(méi)有直接與測(cè)試針板123電連接， 而是通過(guò)載板122與測(cè)試針板123間接地實(shí)現(xiàn)電連接，并且由于采用連接針與接觸點(diǎn)的方式，故能夠方便更換芯部組件12。除此之外，還可以通過(guò)諸如連接器等方式實(shí)現(xiàn)檢測(cè)單元與芯部組件12的電性連接，例如，在測(cè)試針板123上設(shè)置連接器的公頭，而在檢測(cè)單元上設(shè)置連接器的母頭，二者插入即可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)單元與測(cè)試針板123的電連接。
[0038]為便于芯部組件12獲得良好的散熱性，如圖2所示，底壁1101上開設(shè)有容置孔5,載板122的周向尺寸大于容置孔5的周向尺寸，當(dāng)芯部組件12放置于凹陷部110內(nèi)時(shí)，芯部組件 12通過(guò)載板122進(jìn)行限位，防止芯部組件12整體穿入容置孔5內(nèi)。
[0039]另外，結(jié)合圖3所示，測(cè)試針板123遠(yuǎn)離載板122的一側(cè)形成有多個(gè)電接觸點(diǎn)(圖中未示出)以及多根連接導(dǎo)線(圖中未示出)，該電接觸點(diǎn)為構(gòu)成測(cè)試針板123的電路組成部分的接觸點(diǎn)，而連接導(dǎo)線用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試針板123不同的電接觸點(diǎn)的電連接，測(cè)試針板123上設(shè)置有罩在多個(gè)電接觸點(diǎn)以及多根連接導(dǎo)線的罩殼125,罩殼125位于凹陷部110底壁1101的容置孔5內(nèi)。這樣，能夠避免在更換芯部組件12時(shí)，對(duì)電接觸點(diǎn)以及連接導(dǎo)線產(chǎn)生刮擦損壞。
[0040]上蓋2可以通過(guò)多種方式實(shí)現(xiàn)與基座1的相對(duì)移動(dòng)，例如，在上蓋2與基座1之間連接開啟氣缸(圖中未示出)，當(dāng)開啟氣缸的活塞桿伸出時(shí)，上蓋2打開；當(dāng)開啟氣缸的活塞桿收回時(shí)，上蓋2蓋合。如圖1所示，當(dāng)放入待測(cè)電子元件至載板122并且上蓋2蓋合時(shí)，設(shè)于上蓋2的壓棒3可以壓在待測(cè)電子元件上，以便對(duì)待測(cè)電子元件進(jìn)行位置限定。作為一種優(yōu)選， 壓棒3為橡膠材質(zhì)，這樣，可以避免對(duì)待測(cè)電子元件產(chǎn)生損傷。當(dāng)然，壓棒3可以省略，只要待測(cè)電子元件與測(cè)試針板123的測(cè)試針實(shí)現(xiàn)電接觸即可。
[0041]繼續(xù)如圖1至3所示，上蓋2具有與基座1相鉸接的連接端(圖中未標(biāo)示)以及與連接端相對(duì)的自由端(圖中未標(biāo)示)，自由端的底部設(shè)置有鉤部25,基座1上設(shè)置有鎖止氣缸9,當(dāng)上蓋2蓋合于凹陷部110時(shí)，鎖止氣缸9的活塞桿能夠伸入鉤部25以將上蓋2鎖止。這樣，可以進(jìn)一步保證上蓋2始終處于蓋合狀態(tài)。
[0042]上蓋2包括框體21以及可拆卸地設(shè)置于框體21上的蓋體22,框體21與蓋體22均為長(zhǎng)方形，框體21可以選擇為鋁合金材質(zhì)，其鉸接于基座1上，前述拉手24設(shè)于框體21的外表面，壓棒3朝向基座1設(shè)置于蓋體22上。這種結(jié)構(gòu)，可以根據(jù)不同的待測(cè)電子元件選擇不同的蓋體22,以便壓棒3能夠更好地匹配待測(cè)電子元件，壓在待測(cè)電子元件的空閑區(qū)域，使得待測(cè)電子元件在測(cè)試過(guò)程中位置確定。關(guān)于蓋體22與框體21的可拆卸連接，結(jié)合圖1所示，框體21與蓋體22通過(guò)螺栓23連接，在蓋體22以及框體21的周邊對(duì)應(yīng)設(shè)置螺紋孔，螺栓23穿過(guò)蓋體22旋入框體21即可實(shí)現(xiàn)蓋體22與框體21的連接。當(dāng)然，也不限于該種結(jié)構(gòu)，還可以為卡接等，能夠便于實(shí)現(xiàn)框體21與蓋體22的可拆卸即可。
[0043]此外，蓋體22優(yōu)選為透明材質(zhì)，測(cè)試夾具還包括掃碼器6，掃碼器6可拆卸地連接于蓋體22遠(yuǎn)離基座1一側(cè)的表面上。作為一種方式，如圖1所示，在蓋體22上設(shè)置支架7，掃碼器 6通過(guò)螺紋連接件等連接于該支架7上。這種結(jié)構(gòu)，掃碼器6可以方便地與蓋體22安裝或拆卸，當(dāng)根據(jù)待測(cè)電子元件不同而更換蓋板時(shí)，則可以將該掃描器拆卸，之后安裝于重新匹配的蓋板上。
[0044]圖4至圖6以不同視角示出了芯部組件12的結(jié)構(gòu)示意圖，圖7則示出了測(cè)試夾具，但位于基座1前端的殼體部分被省去，以更好地顯示出基座1的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。[〇〇45]參見(jiàn)圖4至圖6,載板122的頂部設(shè)置有用于操作人員將芯部組件12放入或取出基座1的凹陷部110的握持部件124,該握持部件124為兩個(gè)，呈球形體，這樣，可以方便操作人員握住該握持部件124以對(duì)芯部組件12操作。為便于芯部組件12在凹陷部110放置位置的精度，本實(shí)施例中，測(cè)試針板123的底部設(shè)置有多根導(dǎo)向桿127,導(dǎo)向桿127的末端可以進(jìn)一步設(shè)置為圓臺(tái)形，凹陷部110設(shè)置有多個(gè)分別用于各導(dǎo)向桿127穿入的導(dǎo)向孔(圖中未標(biāo)示)。 這樣，當(dāng)導(dǎo)向桿127穿入導(dǎo)向孔時(shí)，則可以實(shí)現(xiàn)芯部組件12與凹陷部110的對(duì)正。此外，也可以在載板122的底部設(shè)置多根導(dǎo)向桿127,其所起到的作用一致。
[0046]如前所述，位于測(cè)試針板123上的測(cè)試針能夠穿過(guò)載板122并與待測(cè)電子元件(圖中未示出)的測(cè)試點(diǎn)相接觸，進(jìn)一步結(jié)合圖7所示，基座1內(nèi)設(shè)置有與基座1的頂部相連的操作氣缸8,當(dāng)上蓋2蓋合于載板122時(shí)，操作氣缸8拉動(dòng)基座1的頂部以使得測(cè)試針板123的測(cè)試針穿過(guò)載板122。這種結(jié)構(gòu)，在放入待測(cè)電子元件時(shí)，測(cè)試針板123的測(cè)試針不與待測(cè)電子元件接觸，因此便于保證待測(cè)電子元件安放平整，而蓋合上蓋2時(shí)，壓棒3壓在待測(cè)電子元件上，操作氣缸8動(dòng)作，能夠帶動(dòng)壓棒3下壓載板122使得測(cè)試針板123上的測(cè)試針頂在待測(cè)電子元件上，故能夠保證測(cè)試針板123的測(cè)試針可靠地與待測(cè)電子元件的測(cè)試點(diǎn)接觸。并且， 由于在放置待測(cè)電子元件時(shí)，無(wú)需使得測(cè)試針頂出至載板122,故能夠便于待測(cè)電子元件的放置?？梢岳斫猓恳惶诇y(cè)試模塊均對(duì)應(yīng)設(shè)置有操作氣缸8。
[0047]以上實(shí)施例僅為本實(shí)用新型的示例性實(shí)施例，不用于限制本實(shí)用新型，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍由權(quán)利要求書限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)和保護(hù)范圍內(nèi)，對(duì)本實(shí)用新型做出各種修改或等同替換，這種修改或等同替換也應(yīng)視為落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測(cè)試夾具，能夠放置待測(cè)電子元件并通過(guò)檢測(cè)單元對(duì)所述待測(cè)電子元件進(jìn)行檢 測(cè)，其特征在于，所述測(cè)試夾具包括基座以及設(shè)置于所述基座上的至少一套測(cè)試模塊，所述 測(cè)試模塊包括與所述基座分體式設(shè)置的芯部組件以及鉸接于所述基座的上蓋，所述基座上 開設(shè)有凹陷部，所述芯部組件能夠放置于所述凹陷部?jī)?nèi)并且與所述檢測(cè)單元電性連接，所 述芯部組件包括測(cè)試針板以及堆疊設(shè)置于所述測(cè)試針板上、用于放置所述待測(cè)電子元件的 載板，位于所述測(cè)試針板上的測(cè)試針能夠穿過(guò)所述載板并與所述待測(cè)電子元件的測(cè)試點(diǎn)相 接觸，所述上蓋能夠蓋合于所述載板上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述凹陷部包括底壁以及圍于所述底 壁周邊的側(cè)壁，所述底壁上設(shè)置有多根與所述檢測(cè)單元電性連接的第一連接針，所述載板 上設(shè)置有多個(gè)分別與各所述第一連接針電接觸的第一接觸點(diǎn);所述載板上還設(shè)置有多個(gè)第 二接觸點(diǎn)，所述第二接觸點(diǎn)與所述第一接觸點(diǎn)電性連接，所述測(cè)試針板上設(shè)置有多根分別 與各所述第二接觸點(diǎn)電接觸的第二連接針。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述底壁上開設(shè)有容置孔，所述載板 的周向尺寸大于所述容置孔的周向尺寸，當(dāng)所述芯部組件放置于所述凹陷部?jī)?nèi)時(shí)，所述芯 部組件通過(guò)所述載板進(jìn)行限位。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述測(cè)試針板遠(yuǎn)離所述載板的一側(cè)形 成有多個(gè)電接觸點(diǎn)以及多根連接導(dǎo)線，所述測(cè)試針板上設(shè)置有罩在所述多個(gè)電接觸點(diǎn)以及 所述多根連接導(dǎo)線的罩殼，所述罩殼位于所述容置孔中。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述載板的頂部設(shè)置有握持部件。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述載板和/或所述測(cè)試針板的底部 設(shè)置有多根導(dǎo)向桿，所述凹陷部設(shè)置有多個(gè)分別用于各所述導(dǎo)向桿穿入的導(dǎo)向孔。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述上蓋靠近所述基座一側(cè)的表面上 設(shè)置有多根用于壓住所述待測(cè)電子元件的壓棒。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述基座內(nèi)設(shè)置有與所述基座的頂部 相連的操作氣缸，當(dāng)所述上蓋蓋合于所述載板時(shí)，所述操作氣缸拉動(dòng)所述基座的頂部以使 得所述測(cè)試針穿過(guò)所述載板。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述上蓋包括框體以及可拆卸地設(shè)置 于所述框體上的蓋體，所述框體鉸接于所述基座上，所述壓棒設(shè)置于所述蓋體上。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試夾具，其特征在于，所述蓋體為透明材質(zhì)，所述測(cè)試夾具 還包括掃碼器，所述掃碼器可拆卸地連接于所述蓋體遠(yuǎn)離所述基座一側(cè)的表面上。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK205665271SQ201620536660
【公開日】2016年10月26日
【申請(qǐng)日】2016年6月3日
【發(fā)明人】龐政, 顧軍
【申請(qǐng)人】大陸汽車電子(長(zhǎng)春)有限公司