本發(fā)明涉及封裝檢測，具體涉及一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)。

背景技術(shù)：

1、電子元器件是電子元件和小型的機(jī)器、儀器的組成部分，其本身常由若干零件構(gòu)成，如電阻、電容、電感等，還涵蓋了各種主動元件和集成電路。封裝芯片屬于集成電路的一種，是電子元器件的重要組成部分。隨著電子產(chǎn)品數(shù)量的日益增加的同時，電子元器件的用量也不斷增加，為保證電子元器件的品質(zhì)穩(wěn)定，在電子元器件封裝完成后，需要對封裝元件進(jìn)行激光檢測，如封裝表面的粗糙度和平整度，以及是否存在劃痕、塵埃或其他表面缺陷等情況。

2、專利號公開了cn118156190a公開了一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)。該電子元器件封裝檢測一體機(jī)用于對封裝件和引腳的表面裂紋和缺陷進(jìn)行檢測，包括機(jī)柜；以及，設(shè)于所述定位機(jī)構(gòu)上的移動滑臺，且移動滑臺上設(shè)有封裝檢測機(jī)構(gòu)，所述封裝檢測機(jī)構(gòu)用于對所述封裝件的外觀進(jìn)行檢測，以消除在對封裝件的檢測過程中產(chǎn)生的死角區(qū)域。

3、為了解決現(xiàn)有裝置對于異形封裝件進(jìn)行激光檢測時，傾斜的邊緣會在封裝件內(nèi)部形成幾何遮擋，使得側(cè)邊區(qū)域?qū)τ谕獠刻筋^來說不可見，從而產(chǎn)生盲區(qū)，其次，封裝件上的凸起結(jié)構(gòu)或凹陷部分可能會阻擋檢測波或視線，使得這些部分對其他部分形成了視線或檢測波的阻擋，導(dǎo)致無法直接對被遮擋區(qū)域進(jìn)行檢測，使得檢測產(chǎn)生盲區(qū)的問題，現(xiàn)有技術(shù)是采用通過設(shè)置第一檢測探頭和第二檢測探頭，從而對異形封裝件外觀進(jìn)行檢測，并通過轉(zhuǎn)動兩側(cè)的第二檢測探頭，對封裝件兩側(cè)的檢測角度進(jìn)行調(diào)節(jié)的方式進(jìn)行處理，但是還會出現(xiàn)機(jī)械檢測設(shè)備的老化和過時，需要人工進(jìn)行二次檢測的情況，進(jìn)而導(dǎo)致檢測精度下降，人工檢測出現(xiàn)誤判的問題，所以需要機(jī)械和人工同時進(jìn)行檢測，提高檢測精度。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

2、為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：

3、一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，包括機(jī)柜，所述機(jī)柜的頂部設(shè)置有檢測裝置，所述機(jī)柜的頂部設(shè)置有固定裝置，所述機(jī)柜的側(cè)面固定安裝有控制器，所述機(jī)柜的底部四角固定安裝有底座。

4、所述檢測裝置包括有凹形板、驅(qū)動電機(jī)、第一螺紋桿、限位桿、第一活動塊、第二活動塊、第一伸縮桿、第一固定板、第一滑槽、第一滑塊、圓板、第二滑槽、第二滑塊、連接套、檢測頭、第一傳動輪、傳動皮帶、第二傳動輪、第二螺紋桿、螺紋筒、第二固定板、放大鏡，所述凹形板固定連接在機(jī)柜的頂部，所述驅(qū)動電機(jī)固定安裝在凹形板的頂部，所述第一螺紋桿通過軸承轉(zhuǎn)動連接在機(jī)柜的頂部，且所述第一螺紋桿的另一端活動貫穿凹形板并向外延伸，所述第一螺紋桿的延伸端固定安裝在驅(qū)動電機(jī)的輸出端。

5、本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述限位桿固定連接在機(jī)柜的頂部，且所述限位桿的另一端固定連接在凹形板的底部，所述第一活動塊螺紋連接在第一螺紋桿的外壁，所述第二活動塊活動連接在限位桿的外壁，兩個所述第一伸縮桿分別固定安裝在第一活動塊和第二活動塊的側(cè)面，所述第一固定板固定連接在第一伸縮桿的另一端。

6、本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述第一滑槽固定開設(shè)在第一固定板的內(nèi)部，所述第一滑塊滑動連接在第一滑槽的內(nèi)部，所述圓板固定連接在第一滑塊的底部，所述第二滑槽固定開設(shè)在圓板的底部，所述第二滑塊滑動連接在第二滑槽的內(nèi)部，所述連接套固定連接在第二滑塊的底部，所述檢測頭活動安裝在連接套的內(nèi)部。

7、本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述第一傳動輪固定套設(shè)在第一螺紋桿的外壁，所述第二螺紋桿通過軸承轉(zhuǎn)動連接在機(jī)柜的頂部，所述第二傳動輪固定套設(shè)在第二螺紋桿的外壁，所述傳動皮帶傳動連接在第一傳動輪和第二傳動輪的外壁，所述螺紋筒螺紋連接在第二螺紋桿的另一端，所述第二固定板固定連接在螺紋筒的頂部，所述放大鏡轉(zhuǎn)動連接在第二固定板的頂部。

8、本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述固定裝置包括有凸臺、通槽、第二伸縮桿、升降板、封裝件、第三滑槽、第三滑塊、夾板、第三固定板和第三伸縮桿，所述凸臺固定連接在機(jī)柜的頂部，所述通槽固定開設(shè)在凸臺的內(nèi)部。

9、本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述第二伸縮桿固定安裝在通槽的內(nèi)壁底部，且所述第二伸縮桿的數(shù)量有四個，所述升降板固定連接在第二伸縮桿的另一端，所述封裝件設(shè)置在升降板的頂部。

10、本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述第三滑槽固定開設(shè)在升降板的內(nèi)部，且所述第三滑槽的數(shù)量有兩個，兩個所述第三滑塊分別滑動連接在兩個第三滑槽的內(nèi)部，所述夾板固定連接在第三滑塊的頂部，所述第三固定板固定連接在第三滑塊的底部，所述第三伸縮桿固定安裝在第三固定板的內(nèi)側(cè)。

11、由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明相對現(xiàn)有技術(shù)來說，取得的技術(shù)進(jìn)步是：

12、1、本發(fā)明提供一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，通過啟動驅(qū)動電機(jī)帶動第一螺紋桿轉(zhuǎn)動，第一螺紋桿轉(zhuǎn)動帶動第一活動塊進(jìn)行升降，第一活動塊升降帶動第一固定板進(jìn)行升降，通過第一伸縮桿伸縮帶動第一固定板滑動，從而調(diào)整第一固定板的位置，通過滑動第一滑塊從而調(diào)整檢測頭的位置，通過第二滑塊滑動帶動連接套滑動，從而帶動檢測頭滑動，通過該裝置調(diào)節(jié)檢測頭的角度，從而對封裝件進(jìn)行多方位的檢測，使得檢測效果更好。

13、2、本發(fā)明提供一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，通過第一螺紋桿轉(zhuǎn)動帶動第一傳動輪轉(zhuǎn)動，第一傳動輪轉(zhuǎn)動帶動傳動皮帶傳動，傳動皮帶傳動帶動第二傳動輪轉(zhuǎn)動，第二傳動輪轉(zhuǎn)動帶動第二螺紋桿轉(zhuǎn)動，第二螺紋桿轉(zhuǎn)動帶動螺紋筒進(jìn)行升降，螺紋筒升降帶動第二固定板進(jìn)行升降，同時放大鏡轉(zhuǎn)動連接在第二固定板的頂部，通過調(diào)整放大鏡的高度和角度，便于工作人員通過放大鏡對封裝件進(jìn)行檢測。

14、3、本發(fā)明提供一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，通過第二伸縮桿伸縮帶動升降板進(jìn)行升降，封裝件放置在升降板的頂部，通過升降板升降帶動封裝件升降，從而調(diào)整封裝件的高度，防止出現(xiàn)死角導(dǎo)致檢測不佳，通過第三伸縮桿伸縮帶動兩個第三固定板活動，兩個第三固定板活動帶動兩個第三滑塊在第三滑槽的內(nèi)部滑動，兩個第三滑塊滑動帶動兩個夾板滑動，兩個夾板配合從而對封裝件進(jìn)行夾持固定，防止晃動導(dǎo)致封裝件掉落。

技術(shù)特征：

1.一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，包括機(jī)柜（1），其特征在于：所述機(jī)柜（1）的頂部設(shè)置有檢測裝置（2），所述機(jī)柜（1）的頂部設(shè)置有固定裝置（3），所述機(jī)柜（1）的側(cè)面固定安裝有控制器（4），所述機(jī)柜（1）的底部四角固定安裝有底座（5）；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，其特征在于：所述限位桿（204）固定連接在機(jī)柜（1）的頂部，且所述限位桿（204）的另一端固定連接在凹形板（201）的底部，所述第一活動塊（205）螺紋連接在第一螺紋桿（203）的外壁，所述第二活動塊（206）活動連接在限位桿（204）的外壁，兩個所述第一伸縮桿（207）分別固定安裝在第一活動塊（205）和第二活動塊（206）的側(cè)面，所述第一固定板（208）固定連接在第一伸縮桿（207）的另一端。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，其特征在于：所述第一滑槽（209）固定開設(shè)在第一固定板（208）的內(nèi)部，所述第一滑塊（210）滑動連接在第一滑槽（209）的內(nèi)部，所述圓板（211）固定連接在第一滑塊（210）的底部，所述第二滑槽（212）固定開設(shè)在圓板（211）的底部，所述第二滑塊（213）滑動連接在第二滑槽（212）的內(nèi)部，所述連接套（214）固定連接在第二滑塊（213）的底部，所述檢測頭（215）活動安裝在連接套（214）的內(nèi)部。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，其特征在于：所述第一傳動輪（216）固定套設(shè)在第一螺紋桿（203）的外壁，所述第二螺紋桿（219）通過軸承轉(zhuǎn)動連接在機(jī)柜（1）的頂部，所述第二傳動輪（218）固定套設(shè)在第二螺紋桿（219）的外壁，所述傳動皮帶（217）傳動連接在第一傳動輪（216）和第二傳動輪（218）的外壁，所述螺紋筒（220）螺紋連接在第二螺紋桿（219）的另一端，所述第二固定板（221）固定連接在螺紋筒（220）的頂部，所述放大鏡（222）轉(zhuǎn)動連接在第二固定板（221）的頂部。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，其特征在于：所述固定裝置（3）包括有凸臺（301）、通槽（302）、第二伸縮桿（303）、升降板（304）、封裝件（305）、第三滑槽（306）、第三滑塊（307）、夾板（308）、第三固定板（309）和第三伸縮桿（310），所述凸臺（301）固定連接在機(jī)柜（1）的頂部，所述通槽（302）固定開設(shè)在凸臺（301）的內(nèi)部。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，其特征在于：所述第二伸縮桿（303）固定安裝在通槽（302）的內(nèi)壁底部，且所述第二伸縮桿（303）的數(shù)量有四個，所述升降板（304）固定連接在第二伸縮桿（303）的另一端，所述封裝件（305）設(shè)置在升降板（304）的頂部。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，其特征在于：所述第三滑槽（306）固定開設(shè)在升降板（304）的內(nèi)部，且所述第三滑槽（306）的數(shù)量有兩個，兩個所述第三滑塊（307）分別滑動連接在兩個第三滑槽（306）的內(nèi)部，所述夾板（308）固定連接在第三滑塊（307）的頂部，所述第三固定板（309）固定連接在第三滑塊（307）的底部，所述第三伸縮桿（310）固定安裝在第三固定板（309）的內(nèi)側(cè)。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電子元器件封裝檢測一體機(jī)，涉及封裝檢測技術(shù)領(lǐng)域，包括機(jī)柜，所述機(jī)柜的頂部設(shè)置有檢測裝置，所述機(jī)柜的頂部設(shè)置有固定裝置，所述機(jī)柜的側(cè)面固定安裝有控制器，所述機(jī)柜的底部四角固定安裝有底座。本發(fā)明通過啟動驅(qū)動電機(jī)帶動第一螺紋桿轉(zhuǎn)動，第一螺紋桿轉(zhuǎn)動帶動第一活動塊進(jìn)行升降，第一活動塊升降帶動第一固定板進(jìn)行升降，通過第一伸縮桿伸縮帶動第一固定板滑動，從而調(diào)整第一固定板的位置，通過滑動第一滑塊從而調(diào)整檢測頭的位置，通過第二滑塊滑動帶動連接套滑動，從而帶動檢測頭滑動，通過該裝置調(diào)節(jié)檢測頭的角度，從而對封裝件進(jìn)行多方位的檢測，使得檢測效果更好。

技術(shù)研發(fā)人員：劉志國
受保護(hù)的技術(shù)使用者：貴州泰金達(dá)電子科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/8